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2012年9月26日
2012.9.26工作记录
摘要: 测试的生存周期分为UT(单体测试)、SI(结合测试),一个测试的生存周期都有单元,单体的UT只是在编码结束到SI的开始之前都是UT的生存周期,在这个期间所发生的bug都属于UT的bug。
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posted @ 2012-09-26 11:47 2224768823
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