空间插值——插值方法的适用范围

空间确定性插值，以研究区域内部的相似性或者平滑度为基础，由已知样点来创建表面。

1、IDW

相近相似原理，反距离加权。

样点分布要尽可能均匀，且布满整个插值区域。

对于不规则分布的样点，插值时利用的样点往往也不均匀的分布在周围不同的方向上，这样对每个方向上的插值结果的影响不同，准确度也会降低。

2、全局多项式插值

一个多项式计算预测值，即用一个平面或曲面进行全区特征拟合。非精确插值法，不与实际样点完全重合。

要求样点模拟的属性在研究区域表面的变化是平缓的。或者检验长期变化的，全局性趋势的影响（即趋势面分析）时使用。一般选三次拟合。

3、局部多项式内插

多个多项式，每个多项式处在特定重叠的邻近区域内。不是精确内插。

当需要建立平滑表面且确定变量的小范围的变异时可以使用。能描述数据集中含有的短程变异。更多地用来解释局部变异。

4、径向基函数

包括平面样条函数、张力样条函数、规则样条函数、高次曲面函数、反高次曲面样条函数五种。

适用于表面变化平缓的表面。

当在较短的水平距离内，表面发生较大变化，或者无法确定采样点数据的准确性，或者采样数据具有较大不确定性时，不适用。