[AAAI2024]AnomalyGPT Detecting Industrial Anomalies Using Large Vision-Language Models

本篇论文将大语言模型应用在工业异常检测(Industrial Anomaly Detection,IAD)任务。

引言

IAD任务旨在检测和定位工业产品图像中的异常。由于现实世界样本的稀有性和不可预测性,要求模型仅在正常样本上进行训练,并实现对测试时异常样本的检测。

如图1,现有的IAD方法给出异常样本的概率,但需要手动设置阈值。大视觉语言模型(Large Vision-Language Models,LVLMs)能够过给出(有时不能给出)图片的描述,但不能实现异常检测。因此本篇文章将大语言模型应用在IAD任务中,提出AnomalyGPT模型(但实际上本文于GPT模型无关)。

相关工作

先用的IAD任务方法可分为两类

基于重建的方法 reconstruction-based

基于重建的目的是将异常样本重建为相应的正常样本,并通过计算重建误差来检测异常,使用的网络架构包括但不限于:自动编码器和,GAN,Transformer和扩散模型。

基于特征嵌入的方法 feature embedding-based

  • 例如PatchSVDD(Yi and Yoon 2020)的方法通过建立包裹正常样本的超球面(hypersphere)。
  • PyramidFlow(Lei et al. 2023)使用正则化流将正常样本投影到高斯分布上。
  • CFA(Lee, Lee, and Song 2022)建立正常样本patch的embedding,比较测试样本的embedding与正常样本的距离,实现异常检测。

然而,上述方法学习到的类是固定的,不能识别新的类,这在实际的生产环境中并不适用。

对于大模型的使用,作者考虑了两个问题

数据稀缺性

LLaVA(Liu et al. 2023)和PandaGPT(Su et al. 2023)等方法在 16 万张图像上进行了预训练,并配有相应的多轮对话。IAD 数据集仅包含几千个样本,因此直接微调很容易导致过度拟合和灾难性遗忘。

针对这点,作者在框架中加入了额外的可学习prompt embedding层,而不是直接微调参数模型。

细粒度语义

大语言模型对于具有判别性的细粒度语义学习不充分。

针对这点,作者引入了轻量级视觉-文本对齐解码器,去生成像素级别的异常定位。

方法

图像特征处理

作者考虑两种IAD任务设置:无监督和few-shot。中间公共的部分:输入样本\(x\in\mathbb{R}^{W\times H\times C}\),被Image Encoder提取的\(C_1\)维度的特征\(F_{img}\in\mathbb{R}^{C_1}\),经过线性层投影后的特征为 \(E_{img}\in\mathbb{R}^{C_{emb}}\)

无监督设置下,输入图片没有标签,但会提供两条文本,例如:“A photo of a normal bottle. A photo of an abnormal capsule.” 两条文本经过预训练的Text Encoder后得到特征\(F_{text}\in\mathbb{R}^{C_{text}}\)

输入文本变化起的格式包含 state-level,对于normal/anomaly的文本分别为文本的格式如下:

normal anomaly
c:="[o]" c:="damaged [o]"
c:="flawless [o]" c:="broken [o]"
... ...

Token [o]可被替换为物体名,若物体名不可用,则使用“object”代替。完整 state-level的prompt template后填入 Template-level的文本,template-level的文本格式包括:

  • "a cropped photo of the [c]."
  • "a cropped photo of a [c]."
  • "a close-up photo of a [c]."
  • ...

经过文本编码器后的文本特征为\(F_{text}\in\mathbb{R}^{2\times C_{text}}\)\(x\)输入图像Encoder后,对于中间4层的特征表示为\(F_{patch}^i\in\mathbb{R}^{H_i\times W_i\times C_i}\),再经过线性层投影得到\(\tilde{F}_{patch}^i\in\mathbb{R}^{H_i\times W_i\times C_{text}}\)

然后将文本特征与图像特征做矩阵乘法并上采样得到Mask:\(M=Upsample\left(\sum_{i=1}^4softmax(\tilde{F}_{patch}^iF_{text}^T)\right)\)

Few-shot设置下,每个类存在几个带标注的样本,图像Encoder中间4层,分别对应一个容量为\(N\)的memory bank:\(B^i\in\mathbb{R}^{N\times C_i}\),然后把整个bank的特征拿来计算,求最大,并把4个结果相加上采样得到掩码mask:\(M=Upsample\left(\sum_{i=1}^4\left(1-max(F_{patch}^i\cdot {B^i}^T)\right)\right)\)

两种设置下,掩码大小与输入图像一致\(M\in R^{H\times W}\)

可学习的prompt embedding层

为了利用图像中的细粒度语义并保持 LLM 和解码器输出之间的语义一致性,引入了一个提示学习器,将定位结果\(M\)转换为prompt embedding。prompt embedding层输出\(n_1\)的向量:\(E_{base}\in\mathbb{R}^{n_1\times C_{emb}}\)

掩码经过卷积、投影变为长度为\(n_2\)的向量:\(M\in R^{H\times W}\rightarrow E_{dec}\in\mathbb{R}^{n_2\times C_{\boldsymbol{e}mb}}\)。再concat向量得到:\(E_{prompt}\in\mathbb{R}^{(n_1+n_2)\times C_{emb}}\)

用户输入图片的文本描述

为了帮助大模型更好的理解图片内容,可以输入图片描述完善以下内容:
## Human: <img> \(E_{img}\) </img> \(E_{prompt}\) [Image Description ] ls there any anomaly in the image? # Assistant:

每个类含若干个描述,例如:
Bottle:This is a photo of a bottle for anomaly detection, which should be round and without any damage, flaw, defect, scratch, hole or broken part.

然而,在实际生产中,文本描述也可以不提供。作者表示,仅提供\(E_{img}\),模型也能有较好的表现。

最后,对于大模型的输出大概是“Yes, there is an anomaly in the image, at the bottom left of the image. or No, there are no anomalies in the image.”

为了让模型更好的理解位置,图片被分为9格

损失函数

用交叉熵计算模型生成的文本序列与目标文本序列之间的损失(其中\(n\)是token的数量):

\[L_{ce}=-\sum_{i=1}^ny_ilog(p_i) \]

\(y_i\)是第i个token真实标签,\(p_i\)为第i个token的概率预测。

在IAD任务中,异常图像中的大多数区域仍然是正常的,采用Focal损失可以缓解类别不平衡的问题(其中n=H×W表示像素总数):

\[L_{focal}=-\frac1n\sum_{i=1}^n(1-p_i)^\gamma log(p_i), \]

并额外使用了Dice损失:

\[L_{dice}=-\frac{\sum_{i=1}^ny_i\hat{y}_i}{\sum_{i=1}^ny_i^2+\sum_{i=1}^n\hat{y}_i^2}, \]

\(y_i\)是图像decoder的输出,\(\hat{y}_i\)的ground-truth。最后的损失函数表示为:

\[L=\alpha L_{ce}+\beta L_{focal}+\delta L_{dice}. \]

实验

数据集

  • MVTec-AD 包含 15 个不同类别的 3629 张训练图像和 1725 张测试图像。
  • VisA 包含 12 个类别的 9621 张正常图像和 1200 张异常图像。

与之前的IAD方法一致,仅使用这些数据集中的正常数据进行训练。为了模拟异常样本,作者使用poisson图像编辑,相较于裁剪-粘贴,对于边缘处理更平滑。

参考文献

  1. Gu, Zhaopeng, et al. "Anomalygpt: Detecting industrial anomalies using large vision-language models." Proceedings of the AAAI Conference on Artificial Intelligence. Vol. 38. No. 3. 2024.
posted @ 2024-11-05 14:36  October-  阅读(117)  评论(0编辑  收藏  举报