摘要：
Basic-Scan（优先使用） 速度极快，覆盖范围广，可进行全扫描 Fast-Sequential（如果有需要使用） 全扫描设计的覆盖范围更大； 适用于memory周围的阴影逻辑、有限的no--scan Full-Sequential（最后使用） 强大的引擎支持更复杂的设计 run_atpg -a 阅读全文
摘要：
一、主要的fault分类 DT——Detected PT——Possibly Detected UD——Undetected AU——ATPG Untestable ND——Not Detected 使用set_faults -symmary verbose查看更详细的fault分类： ① DT—— 阅读全文