摘要：
一、Scan Chain基础 二、基础Scan Insertion流程 三、Tester Timing 四、DFT Rules, DRC and AutoFix 五、UDTP 六、Scan Architecture 七、Clock Gating Cell Connection 八、ATSPEED T 阅读全文
摘要：
三、Tester Timing 推荐： set test_default period 100set test_default_delay 0set test_default bidir_delay 0set test_default_strobe 40 set_dft_signal -view e 阅读全文