【MIPS】MT7620DA问题汇总
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1.问题：编译错误parse error before '=' token
2.问题：MT7620A无线芯片——普通GPIO操作
3.问题：MT7620A无线芯片——复用功能引脚转GPIO操作
4.APP/RESCUE校验的困惑
5.矩阵按键短路测试字体显示遮盖问题
6. xx10设备单板二次测试LCD字符串显示挤到一行问题
7、问题：FIP10字符串打印，当字符串超过16个字符时，其尾巴会覆盖该行的首端。为什么？
8、问题：getnev()得到的hw_device设备号在产测过程中有几率被不相干的代码修改，为什么？LCD显示乱序之彻底解决
1.问题：编译错误parse error before '=' token
nand_lcd_notdma.c:
1071: error: parse error before '=' token
1072: error: parse error before "char"
错误源码：
unsigned char char = ch;
查网上：
一个*.c文件中，在一行中定义：
int data[5];
编译报错：
parse error before '[' token；
data是非常平常的一个变量，为什么会报错呢？
如果改为data_, data1, data2.... 就没有问题。
编译器错误？？？当然不是，还是程序本身的问题
在一个包含的头文件中定义了一行：
#define data
这就是错误的关键，花了一天时间才发现这个问题。。。。
2.问题：MT7620A无线芯片——普通GPIO操作
I.基础操作
2.1设置引脚为输出模式：
*(volatile u32 *)(RALINK_REG_PIO7140DIR) |= (0x3F << 20); /* set GPIO 65 -- 60 to output; 1=output, 0=input */
2.2设置引脚为输入模式：
*(volatile u32 *)(RALINK_REG_PIO7140DIR) &= ~(0x3F << 20); /* set GPIO 65 -- 60 to input; 1=output, 0=input */
2.3读数据（主要用作输入引脚时使用，输出引脚也可使用）
u32_var = *(volatile u32 *)(RALINK_REG_PIO7140DATA)；
2.4写数据（用作输出引脚）
1>输出引脚写入数据1，输出高电平：
*(volatile u32 *)(RALINK_REG_PIO7140SET) |= (1<< (20 + i)); /* 把行GPIO(60 + i)输出引脚拉高（即置1）*/
2>输出引脚写入数据0，输出低电平：
*(volatile u32 *)(RALINK_REG_PIO7140RESET) |= (0x3F << 20); /* GPIO 65 -- 60 清零 */
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II.项目使用
问题：矩阵按键行（实际工作用作输出引脚，矩阵6行6列）短路/开路测试，从ROW0-5依次配置测试行引脚为输出引脚，其他行引脚为输入引脚，然后正常测试 / 短路测试，检测其他行的电平状况。 理论结果：其他行电平在正常测试时为低电平，短路测试时为高电平。 实际结果：其他行电平在正常测试时依然有高电平/低电平，且每次读并不总是一样。短路测试时为高电平，正常。
问题分析与解决：
*(volatile u32 *)(RALINK_REG_PIO7140DIR) |= (0x3F << 20); /*a.清零所有列数据寄存器*/
*(volatile u32 *)(RALINK_REG_PIO7140RESET) |= (0x3F << 20);
*(volatile u32 *)(RALINK_REG_PIO7140DIR) &= ~(0x3F << 20); /*b.set GPIO 65 -- 60 to input; 1=output, 0=input */
*(volatile u32 *)(RALINK_REG_PIO7140DIR) |= (1<< (20 + i)); /*c.测试GPIO(60 + i)输出*/
*(volatile u32 *)(RALINK_REG_PIO7140SET) |= (1<< (20 + i)); /*d.把测试列GPIO(60 + i)输出引脚拉高*/
udelay(10000); //打印乱了，好几个引脚显示高电平，且每次读DATA寄存器，值都不一样;
//udelay(0); //屏蔽延时，与测试行短接的行引脚，但是DATA寄存器输入引脚的相应位，检测不到高电平;
udelay(200); //该时间可以读取到正常的数据，也可以检测到短路;
u32_var = (*(volatile u32 *)(RALINK_REG_PIO7140DATA)) >> 20; /*e.读GPIO65-60 列其他输入引脚数据 */
u32_var &= 0x3f;
printf("KEY_ROWS TEST3: u32_var = 0x%x\n", u32_var);
说明：
1.根据数据手册，操作时需要进行“位写”操作的寄存器：
RALINK_REG_GPIO_xx_DIR //set GPIO_xx to： 1=output, 0=input */
2.不需要进行“位写”操作的寄存器：
RALINK_REG_GPIO_xx_SET //0=无影响; 1=把输出引脚GPIODATA寄存器对应位拉高;
RALINK_REG_GPIO_xx_RESET //0=无影响; 1=把输出引脚GPIODATA对应位清零;
RALINK_REG_GPIO_xx_TOG //0=无影响; 1=反转输出引脚GPIODATA对应位;
这类寄存器，应使用直接赋值操作。
3.不需要写操作，只需要“读”操作的寄存器：
RALINK_REG_GPIO_xx_DATA
现象：
KEY_ROWS TEST3: u32_var = 0x19 = 0b011001;
分析：手动短路键盘引脚，理论只应该出现两个高电平引脚，即测试拉高引脚和与测试引脚手动短路的引脚。但现象并不是如此。
操作：短接行4-5（共有行0-5）。
猜测1：应该是RALINK_REG_GPIO_xx_SET寄存器使用位操作时，之前操作的位仍保留了高电平。
但是RALINK_REG_PIO7140SET修改前
源码：
*(volatile u32 *)(RALINK_REG_PIO7140SET) |= (1<< (26 + i)); /*d.把测试行GPIO(66 + i)输出引脚拉高*/
udelay(10000);
u32_var = *(volatile u32 *)(RALINK_REG_PIO7140SET);
//==================================
printf("KEY_ROWS TEST3: RALINK_REG_PIO7140SET = 0x%x\n", u32_var); //u32_var = 0x19 = 0b011001;
//==================================
u32_var = (*(volatile u32 *)(RALINK_REG_PIO7140DATA) >> 26); /*e.读GPIO71-66 行其他输入引脚数据 */
u32_var &= 0x3f;
//==================================
printf("KEY_ROWS TEST3: RALINK_REG_PIO7140DATA = 0x%x\n", u32_var);
//==================================
打印：
KEY_ROWS TEST3: RALINK_REG_PIO7140SET = 0x0
KEY_ROWS TEST3: RALINK_REG_PIO7140DATA = 0x31=0b0011 0001;
修改后源码：
*(volatile u32 *)(RALINK_REG_PIO7140SET) = (1<< (26 + i)); /*d.把测试行GPIO(66 + i)输出引脚拉高*/
udelay(10000);
u32_var = *(volatile u32 *)(RALINK_REG_PIO7140SET);
//==================================
printf("KEY_ROWS TEST3: RALINK_REG_PIO7140SET = 0x%x\n", u32_var); //u32_var = 0x19 = 0b011001;
//==================================
打印：
KEY_ROWS TEST3: RALINK_REG_PIO7140SET = 0x0
KEY_ROWS TEST3: RALINK_REG_PIO7140DATA = 0x31=0b0011 0001;
答：RALINK_REG_GPIO_xx_SET并无保存之前的值，是因为其在作用完RALINK_REG_GPIO_XX_DATA后就自动归回默认值0x0了吗？不知，但是其并未影响程序。
猜测2：手动短路时，手接触镊子，手上带有电。
答：手不接触镊子时，短路，测试必报短路，万用表测电平:
ROW_4/5 与其他引脚电平一样，都是0.8V左右;
手接触镊子时，短路，测试必报短路，万用表测电平:
ROW_4/5 与其他引脚电平不一样，是1.5V左右；其他引脚仍然0.8V左右;
测试3：把所有行后设置为输入引脚，短接ROW4-5，查看RALINK_REG_GPIO_XX_DATA寄存器的打印结果
答：
//*(volatile u32 *)(RALINK_REG_PIO7140DIR) |= (1<< (26 + i));
KEY_ROWS TEST1: RALINK_REG_PIO7140DATA = 0x0
KEY_ROWS TEST2: RALINK_REG_PIO7140DATA = 0x0
KEY_ROWS TEST3: RALINK_REG_PIO7140SET = 0x0
KEY_ROWS TEST3: RALINK_REG_PIO7140DATA = 0x30 //0b0011 0000;
Keypad Test: row: 0-4
//*(volatile u32 *)(RALINK_REG_PIO7140SET) = (1<< (26 + i)); /*d.把测试行GPIO(66 + i)输出引脚拉高*/
....
KEY_ROWS TEST3: RALINK_REG_PIO7140SET = 0x0
KEY_ROWS TEST3: RALINK_REG_PIO7140DATA = 0x30 //0b0011 0000;
Keypad Test: row: 2-4
猜测4：专业用于输入引脚的列引脚接下拉电阻到地，为什么？这个是造成行全配置为输入引脚时会读到高电平的原因所在吗？
总结：因为行引脚未接上拉/下拉电阻到电源/地，引脚悬空。因此，需要在寄存器配置之后，立刻读DATA寄存器的值，如此可得到正确的值。
但又因为RALINK_REG_PIO7140SET寄存器置1后稍微一段时间后，才能在RALINK_REG_PIO7140DATA寄存器读到该位的相应数据位置1，因此应该在
RALINK_REG_PIO7140SET寄存器置1后添加延时delay(200)或(100)。
说明：当一个数字芯片的输入引脚处于悬空状态时，是输入高电平还是低电平。我认为这个问题答案不确定。这个要看引脚内部结构。有些引脚内部有上拉电阻，
悬空时肯定是输入高电平。有些引脚内部有下拉电阻，悬空时肯定输入低电平。对于那些开漏的引脚，电平应该不确定的。
3.问题：MT7620A无线芯片——复用功能引脚转GPIO操作
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4.APP/RESCUE校验的困惑
问题1：人为改变APP校验值app_checksum，保持rescue_checksum不变，启动系统，串口显示APP分区校验"FAIL", RESCUE分区校验“OK”。
问：系统从哪里启动？即bootm地址？
问题2：若app_checksum，rescue_checksum环境参数都不存在，或者其一不存在，系统从哪里启动？即bootm地址？
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5.矩阵按键短路测试问题
问题：矩阵电话机键盘进行按键开路测试时，需要在LCD屏上列举所有按键的键号，未检测时初始状态为蓝色，检测到按键转为绿色。
发现问题：整机按键操作显示，刷新时，后显示的会覆盖下一行先显示的上半部1/3.
源码梳理：
Nand_lcd_notdma.c (uboot_fip13\e3call\linux_drv\fvdd) 49377 2019/12/10
void lcd_set_line(u16 linex, u16 xpos)
{
cur_pos_x = xpos;
//cur_pos_y = linex * y_max_px +3; //修改前源码; 会造成后面显示的会覆盖下一行前面显示的上半部1/3;
cur_pos_y = linex * font_chosen->height + 3; //修改后源码：已解决bug/* FIP13/14: font_12x22[]: 行高度22，字体显示区上边框3pixel*/;
printf("\n\nlcd_set_line: y_max_px = %d\n\n", y_max_px); //串口打印：lcd_set_line: y_max_px = 16;
}
Ftchar_dummy.c (uboot_fip13\e3call) 30773 2019/12/2
const u16 x_pixels = 24;
const u16 y_pixels = 24;
const u16 x_max_px = 26;
const u16 y_max_px = 26;
Ftchar.c (uboot_fip13\e3call) 28070 2019/12/2
const u16 x_pixels = 15;
const u16 y_pixels = 15;
const u16 x_max_px = 16;
const u16 y_max_px = 16;
e3call/Makefile：
OBJS = test.o net_e3c.o arch.o cid.o custom_test.o ftchar.o ft_utils.o font_ascii_8x16.o font_sun12x22.o fonts.o
Font_sun12x22.c (uboot_fip13\e3call) 69169 2019/12/3
每个数字的的12x22字符位图的最上一行像素，最下6行像素都是空白; 真正点阵位图只有15像素高度;
总结：
1.ftchar.o编译在前，y_max_px变量取用ftchar.o文件，ft_utils.o文件无用，该文件已经没有作用了;
2.lcd_set_line()在定位按键数组时，对每一行的设定宽度是y_max_px=16时，由于LCD屏的像素刷新方向是从左到右，从上到下。因此第一次刷全屏时，
第n+1行数字必将覆盖第n行数字的最下（22-y_max_px=6）行像素，所有数字呈现到LCD屏的的位图确实完整无损。但是，当进行无序按键操作时，LCD屏幕中
的数字重新刷新时，若第n行数字先于第n+1行刷新时，第n行数字必将覆盖第n+1行数字的最上（22-y_max_px=6）行像素，因此造成其下的数字的上半部基本
被覆盖。若第n+1行数字先于第n行刷新时，则仍不会造成显示呈现缺损问题。
忽然发现，曾经以为的实惠可用，在同层人眼中，已经是被淘汰的对象了，呵，唉，品味啊，变吧，改换优先级吧。
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6.10单板二次测试LCD字符串显示挤到一行问题
说明：FIP10设备单板测试时用FIP11C的彩色液晶屏，整机测试时用其本身的单色屏，程序根据设备号hw_device在启动阶段初始化不同的LCD。
即切换屏时，程序会先切换设备号。
当第一次单板测试结束后，仍保留按键短接线，
FIP10二次单板测试时，LCD测试项显示挤到一行了。
源码梳理：
fip1x_test
hw_device=getenv("hw_device"); /* 1.get the device name */
#ifdef FIP10
if((!strncmp(hw_device, "FIP10", 5)) && (testmode == '1')) /* 判断是否重复测试*/
{
setenv("hw_device", "FIP11C");
saveenv();
do_reset(NULL, 0, 0, NULL);
}
#endif
##hw_device = getenv("hw_device"); /* 2.更新hw_device，添加后测试 */
if (testmode == '1') /* FIP10/FIP11C单板测试均用彩屏 */
{
set_test_mask(); /* 2.设置MFR_MASK；*/
get_test_information(testmode);
fip1x_b_test(); /* 3.测试板块：1=单板测试 */
save_test_information(testmode); /* 4.设置单板测试信息结果 */
#ifdef FIP10
set_hw_device_to_default("FIP10"); /* 5.设置设备系统型号hw_device=FIP10 ；*/
#endif
while (1);
}
display_test_info()等显示函数;
分析：由于首次单板测试结束时，FIP10设备号会被set_hw_device_to_default()改回"FIP10"，"#ifdef FIP10"判断成功执行setenv("hw_device", "FIP11C")
会重新更改hw_device到FIP11C以进行用彩屏单板测试。而重新进入(testmode == '1')单板测试模式时，虽然flash中的设备号hw_device已经改过来了，但
是该文件中的静态全局变量hw_device并未在进入单板测试前从"FIP10"改回到“FIP11C”。静态全局变量hw_device为"FIP10"或"FIP11C"在单板测试执行过程的
唯一区别在于：display_test_info()类函数。
因此，造成问题：lcd_init()正常，logo也正常显示，但是进入单板测试时字体行排列按照FIP10执行，所有测试项将都挤到第二行。而重新启动/复位，则
会在fip1x_test()开头处重新更新静态全局变量hw_device为"FIP11C"，显示正常。
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7、问题：FIP10字符串打印，当字符串超过16个字符时，其尾巴会覆盖该行的首端。为什么？
答：
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8、问题：getnev()得到的hw_device设备号在产测过程中有几率被不相干的代码修改，为什么？LCD显示乱序之彻底解决
现象：检验xx_10设备单板测试时，设备号hw_device及其在测试中作为判断条件时，实现xx_10设备单板测试时用彩屏仍显示正常，解决显示挤到一行的问题。
bug定位：
save_unit_test_information
char size[16]="";
sprintf(size, "0x%08x", MFR_TEST);
//=================
printf("save_unit_test_information1.2: size = %s\n", size);
printf("save_unit_test_information1.2: MFR_TEST = %x\n", MFR_TEST);
printf("save_unit_test_information1.2: hw_device = %s\n", hw_device); //hw_device = xx_11C
//===============
setenv("MFR_TEST", size); //hw_device静态变量在此被改变了；
//=================
printf("save_unit_test_information2: size = %s\n", size);
printf("save_unit_test_information2: MFR_TEST = %x\n", MFR_TEST);
printf("save_unit_test_information2: hw_device = %s\n", hw_device); //打印：hw_device = stdout=serial
printf("save_unit_test_information2: &hw_device = 0x%x\n", &hw_device); //打印：hw_device = stdout=serial
printf("save_unit_test_information2: &size = 0x%x\n", &size);
//=============
saveenv();
综述：
之前的set_test_mask( )之后hw_device乱序的问题也是这个原因吗？虽然是#ifdef FIP10前后的逻辑有疏漏，但是在该函数读出的hw_device也是这个问题( = stdout=serial)，为什么？
猜想1：是因为hw_device指针指向的字符串的所在内存空间被程序收回从新使用，从而导致数据出错吗？
猜想2：使用hw_device和hw_device[32]的使用场合区别？
答1：现在看是的，探讨static volatile char* hw_device = NULL;改为static volatile char hw_device[32] = "";的可行性。
hw_device的所有使用情景：
- static volatile char* hw_device = NULL;
- if(!strncmp(hw_device, "FIP11C", 6) )
- hw_device=getenv("hw_device"); /* get the device name in /etc_ro/dev.conf */
- printf("fip1x_test: hw_device = %s\n", hw_device);
- setenv("hw_device", dev_name);
因此，hw_device[32]具备可替换hw_device的性质。
答2：hw_device[32]适用于所有场合，hw_device则只适用于短暂存储字符串并立马使用且后续不在使用的场合；
static volatile char hw_device[32] = ""; //旧方式：static volatile char *hw_device=NULL;
strcpy(hw_device, getenv("hw_device")); //hw_device=getenv("hw_device");
#ifdef FIP10
#endif
strcpy(hw_device, getenv("hw_device")); //hw_device = getenv("hw_device");
验证：
结果：与猜想一样，已解决；
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问题1：c程序执行一个空指针，会发生什么？例如：
struct font_desc *font;
unsigned char *pdata = (unsigned char *)font->data;
答：程序直接挂在此处了。
问题2：
Const unsigned ch = 32;
unsigned char char = ch - 32; //编译错误！只读变量？
答：因为char和宏或者字符类型char冲突了！
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