2018年5月16日
可测性设计：关于Rombist
摘要： 关于EmbeddedMemories 随着半导体工艺的发展,可测性技术(DFT)成为每个芯片在设计中必须考虑的问题 如何高效和高质量的测试芯片中的内嵌Memory,成为DFT技术中的关键技术 本文针对rombist中的Memorymodel的产生算法和结果做一个分析和总结 实际案例的具体分析和计算 阅读全文
posted @ 2018-05-16 21:28 魏老师说IC 阅读(1262) 评论(0) 推荐(0) 编辑