2018年5月15日
物理综合：关于insert_scan
摘要： 关于Insert_Scan 随着半导体工艺的发展,可测性技术(DFT)成为每个芯片在设计中必须考虑的问题 测试覆盖率作为DFT技术中的关键指标,受到多种因素制约 本文针对常见的Insert_scan问题和方法,做一个深入的分析和总结 Insert_Scan属于时序设计中的高阶问题,需要一定的背景知识 阅读全文
posted @ 2018-05-15 22:01 魏老师说IC 阅读(435) 评论(0) 推荐(0) 编辑