我的芯片测试流程理解

前言：芯片测试：确保芯片在生产和使用过程中的稳定性和可靠性 （芯片的质量和性能）。

测试芯片主要分为：解密芯片测试，功耗测试，性能测试，可靠性测试，芯片烧录和老化测试。

一、安全性测试（解密测试）

　　解密测试：通过分析和测试来验证解密芯片的正常运行，它包括对芯进行开放测试（指芯片解密和破解，用来了解芯片的内部构造和原理）和  

闭合测试（指验证解密芯片的功能是否正常，并确保其与原始设计的一致性）。

相关资料可参考：【单片机解密及方法】https://www.szrmt.com.cn/emcib/2577.html

 

　　　　　　　　【芯片解密的方法】 https://tech.hqew.com/fangan_2079690

通过模拟黑客攻击、漏洞扫描、加密解密等测试，发现芯片中存在的安全漏洞，并及时解决，确保数据的安全性。

二、功耗测试

　　功耗测试：用于评估芯片的功耗性能，通过测量芯片在不同工作负载下的功耗，可以了解芯片在正常运行状态下的能耗水平，这对于电池供电设备很重要，因为功耗低的芯片可以延长电池寿命，提供更长的工作时间。

（1）功耗测试方法：

　　① 电流测试：芯片的功耗主要通过电流来进行测量。在测量过程中，我们需要使用专业的电流表或者示波器来测量芯片所消耗的电流大小。首先，将需要测试的芯片与电源进行连接，并保持芯片处于稳定的工作状态。

然后，将电流表或示波器的探头连接到芯片的电源引脚上，记录并测量电源上的电流变化。通过对同样的芯片在不同工作状态下的电流测量，可以得到不同工作状态下的芯片功耗情况。

　　② 电压测试：芯片的功耗与其所使用的电压直接相关。在测量过程中，我们需要使用专业的电压表来测量芯片所使用的电压大小。同样地，将需要测试的芯片与电源进行连接，并保持芯片处于稳定的工作状态。

然后，将电压表的探头连接到芯片的电源引脚上，记录并测量电源上的电压变化。通过对同样的芯片在不同工作状态下的电压测量，可以得到不同工作状态下芯片功耗的变化情况。

　　③ 功耗分析仪：功耗分析仪是一种专业的设备，主要用于测量和分析芯片功耗。使用功耗分析仪可以更加准确地测量和分析芯片在不同工作状态下的功耗情况。功耗分析仪通常配有高精度的电流表和电压表，

并具有快速响应和高度灵敏的特性，能够精确地测量芯片的功耗。在使用功耗分析仪进行测量时，需要将芯片与功耗分析仪进行连接，并按照设备的说明进行操作。

 　　例如：在机器正常运行、跑非算法、跑算法等情况下的多组数据的平均功耗计算......

结论：测量过程中需要保持芯片的稳定工作状态，并严格按照设备说明进行操作，以免影响测量结果的准确性。

三、性能测试

　　性能测试：用于评估芯片在不同方面的性能水平，如：处理速度、计算能力和响应时间，这些测试涉及到对芯片进行各种负载和压力测试，以评估其性能极限和稳定性（确定芯片的能力和潜力，并进行必要的调整和优化）。

　　处理速度：对一个程序的运行开始到结束，所需的时间是否有所提高相比上个版本，可以使用时间戳来进行多组数据平均值比较。

　　计算能力和响应时间：比如使用某工具或者方法将内存或者cpu几乎占满、加大负载，观察cpu和内存多久可以响应过来或者出现死机现象。

四、可靠性测试

　　可靠性测试：是通过模拟芯片在不同环境下的工作条件来评估芯片的可靠性和稳定性（高低温测试、湿度测试、震动测试），确保芯片在极端条件下的可靠性，芯片在各种环境下的正常运行和长期稳定性。

五、芯片烧录和芯片老化测试

　　芯片烧录：通过在芯片上烧录程序代码，来验证芯片的功能。

　　芯片老化测试：指在芯片上进行长时间的工作和负载测试，以模拟芯片的使用寿命，并评估其稳定性和可靠性。

 芯片测试座相关资料 ：https://www.bilibili.com/video/BV18z4y1F7Yz/?vd_source=ce610fa575a9016fb9d25670c0752e11