2018年3月26日
[记录]FIO测试磁盘iops性能
摘要： FIO测试磁盘iops性能 1.SATA和SAS盘原生IOPS如下： 2.RAID磁盘阵列对应的写惩罚级别： 3.计算功能性IOPS公式如下： 功能性 IOPS=(((总原生 IOPS×写 %))/(RAID 惩罚))+(总原生IOPS×读 %) 4.根据公式和测试磁盘(两块15000RPM SAS 阅读全文
posted @ 2018-03-26 18:05 wsjhk 阅读(713) 评论(0) 推荐(0) 编辑