ATE测试 - STDF文件分析 - Excel报表格式探讨

1、转换对象：STDF文件

2、适用人员：TE 或 解决方案人员 或 需要对测试项TestItem原始测试值进行分析的

2、Excel格式：如下示意图

4、局限性：Excel一个sheet中，列数最大不能超过16384列，行数最大不能超过1048576行，因此这种格式对于超过16384颗Die的文件就无法生成Excel文件了，但对于TE来说这种格式更适合分析

5、为什么这种Excel格式，即每列一颗Die，每行一个参数，更适合TE进行数据分析？而不是常见的每列一个测试项，每行一颗Die的格式？

【每列一个测试项，每行一颗Die】：这种格式在STDF单机分析软件中很常见，原因是这种方式可以基于测试项的数量来拆分为多个sheet，如果某颗芯片的测试项超过2w，基于Excel列数最大不超过16384，则可以拆分成2个sheet，对于单片wafer来说，芯片数量基本上不会超过104w，即不会受到Excel行数限制，那么这种格式就可以导出全量数据

但上述图片中呈现的格式比较适合TE在实验室进行STDF数据分析，主要有以下3个原因：

1、由于TE经常跑100-200颗的autorun或者1颗的loop来进行测试值对比，芯片颗数并不会太多，更倾向于将全量测试项展示在一个sheet中便于查看

2、假设按照【每列一个测试项，每行一颗Die】输出Excel，那么如果使用Excel【自动筛选】查找测试项是无法实现的，需要手动拷贝测试项转置后再使用【自动筛选】，这个步骤较为繁琐

3、手动转置之后，如果芯片颗数较多，依然需要拆分sheet，手动进行Excel格式整理的工作量会更大