基础练习 芯片测试  
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问题描述
　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
import java.util.Scanner;
public class Main {

    public static void main(String[] args) {
        // TODO Auto-generated method stub
        Scanner sc=new Scanner(System.in);
        int n,i,j;
        n=sc.nextInt();
        int a[][]=new int[n][n];
        int count[]=new int[n];
        for(i=0;i<n;i++){
            
            count[i]=1;
            for( j=0;j<n;j++)
                a[i][j]=sc.nextInt();
        }
        for(j=0;j<n;j++)
        {
            for(i=0;i<n;i++){
                if(i!=j && (a[i][j]==1))
                    count[j]++;
            }
            if((count[j]>(n/2)) &&(j!=(n-1)))
                System.out.print(j+1+" ");
            else if((count[j]>(n/2))&& (j==(n-1)))
            System.out.println(n);
        }

    }

}