DUT:Device Uder Test 被测设备

半导体测试的专业术语 1. DUT 需要被实施测试的半导体器件通常叫做DUT（Device Under Test，我们常简称“被测器件”），或者叫UUT（Unit Under Test）
posted @ 2022-10-28 10:49  七八九777  阅读(800)  评论(0)  编辑  收藏  举报