CCD 芯片与 CMOS 芯片的主要参数有哪些?
在机器视觉中主要采用的两类光电传感芯片分别为 CCD 芯片和 CMOS 芯片,CCD 是 Charge Coupled Device(电荷耦合器件)的缩写,CMOS 是 Complementary Metal-Oxide-Semiconductor Transistor(互补金属氧化物半导体)的缩写。无论是 CCD 还是 CMOS,他们的作用都是通过光电效应将光信号转换成电信号(电压/电流),进行存储以获得图像。CCD 芯片与 CMOS 芯片的主要参数有:
- 像元尺寸
像元尺寸指芯片像元阵列上每个像元的实际物理尺寸,通常的尺寸包括 14um,10um, 9um , 7um ,
6.45um ,3.75um 等。像元尺寸从某种程度上反映了芯片的对光的响应能力,像元尺寸越大,能够接收到的光子数量越多,在同样的光照条件和曝光时间内产生的电荷数量越多。对于弱光成像而言,像元尺寸是芯片灵敏度的
一种表征。 - 灵敏度
灵敏度是芯片的重要参数之一,它具有两种物理意义。一种指光器件的光电转换能力,与响应率的意义相同。即芯片的灵敏度指在一定光谱范围内,单位曝光量的输出信号电压(电流),单位可以为纳安/勒克斯 nA/Lux、伏/瓦(V/W)、伏/勒克斯(V/Lux)、伏/流明(V/lm)。另一种是指器件所能传感的对地辐射功率(或照度),与探测率的意义相同,。单位可用瓦(W)或勒克斯(Lux)表示。 - 坏点数
由于受到制造工艺的限制,对于有几百万像素点的传感器而言,所有的像元都是好的情况几乎不太可能,坏点数是指芯片中坏点(不能有效成像的像元或相应不一致性大于参数允许范围的像元)的数量,换点数是衡量芯片质量的重要参数。 - 光谱响应
光谱响应是指芯片对于不同光波长光线的响应能力,通常用光谱响应曲线给出。
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