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Paul安
行到水穷处,坐看云起时。 快速联系,微博地址:https://weibo.com/uiojhi
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2018年8月6日
SOC中的DFT和BIST对比与比较-IC学习笔记(二)
摘要: ATE:ATE是Automatic Test Equipment的缩写,根据客户的测试要求、图纸及参考方案,采用MCU、PLC、PC基于VB、VC开发平台,利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技术开发、设计各类自动化测试设备。 BIST:BIST是在设计时在
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posted @ 2018-08-06 18:03 Paul安
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