2024年7月5日
芯片高低温测试
摘要： 高低温测试： 温度突变试验和温度渐变试验 当试验箱（室）温度升到或降至规定的温度后，立即将样品放入试验箱进行试验，称为温度突变试验，而将样品先放入温度为室温的试验箱中，然后将箱内温度逐渐升到或降至试验所规定温度的试验，称为温度渐变试验。 一般来讲，若已知温度突变对试验样品不产生其他有害影响时，为节省 阅读全文
posted @ 2024-07-05 15:49 Tarzen 阅读(181) 评论(0) 推荐(0) 编辑