会员
周边
众包
新闻
博问
闪存
赞助商
所有博客
当前博客
我的博客
我的园子
账号设置
简洁模式
...
退出登录
注册
登录
Tarzen
博客园
首页
新随笔
联系
订阅
管理
2024年7月5日
芯片高低温测试
摘要: 高低温测试: 温度突变试验和温度渐变试验 当试验箱(室)温度升到或降至规定的温度后,立即将样品放入试验箱进行试验,称为温度突变试验,而将样品先放入温度为室温的试验箱中,然后将箱内温度逐渐升到或降至试验所规定温度的试验,称为温度渐变试验。 一般来讲,若已知温度突变对试验样品不产生其他有害影响时,为节省
阅读全文
posted @ 2024-07-05 15:49 Tarzen
阅读(43)
评论(0)
推荐(0)
编辑
公告