正点原子输入捕获实验代码笔记（HAL库）

一、软硬件环境

　　STM32F1精英版 ，MDK5

二、输入捕获原理

　　

　　如上图所示，t1时刻输入高电平，发生中断，在中断里将计数值置0，开始记溢出次数N，其中每计数0xFFFF次溢出一次，直到t2时刻跳变回低电平，获取最后一次溢出时到t2时刻的计数值TIM5CH1_CAPTURE_VAL，则  溢出总次数 = 溢出次数*65535+TIM5CH1_CAPTURE_VAL ；根据定时器初始化时的频率即可计算出溢出总次数所占用的时间，即为高电平时间。

 

三、输入捕获重点代码笔记

　　1、初始化TIM5 CH1为 1MHz ，即1us计数一次

TIM5_CH1_Cap_Init(0XFFFF,72-1);

 

　　2、第一次捕获到高电平时，要清除计数寄存器里面的值

__HAL_TIM_SET_COUNTER(&TIM5_Handler,0);//设置计数寄存器的值变为0

 

　　3、清除并重设捕获极性（上升沿或下降沿触发）

TIM_RESET_CAPTUREPOLARITY(&TIM5_Handler,TIM_CHANNEL_1);   //一定要先清除原来的捕获极性！！
TIM_SET_CAPTUREPOLARITY(&TIM5_Handler,TIM_CHANNEL_1,TIM_ICPOLARITY_FALLING);//定时器5通道1设置为下降沿捕获（重设捕获极性）

 

　　4、捕获到下降沿后，获取最后一次溢出到t2时刻的计数值

TIM5CH1_CAPTURE_VAL=HAL_TIM_ReadCapturedValue(&TIM5_Handler,TIM_CHANNEL_1);//获取当前的捕获值.

　　5、溢出次数

//捕获状态
//[7]:0,没有成功的捕获;1,成功捕获到一次.
//[6]:0,还没捕获到低电平;1,已经捕获到低电平了.
//[5:0]:捕获低电平后溢出的次数
u8  TIM5CH1_CAPTURE_STA=0;                            //输入捕获状态，每次溢出+1，最大值为0X3F

 

　　6、计算总溢出次数

temp=TIM5CH1_CAPTURE_STA&0X3F; 
temp*=65536;                     //溢出时间总和
temp+=TIM5CH1_CAPTURE_VAL;      //得到总的高电平时间

 

 

that is all .