调试备忘录-SWD协议解析

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写在前面

最近由于公司需要,所以就做了个基于SWD协议的离线烧写器。由于过程中参考了很多大神的文章,因此就想写个随笔记录下。整个烧写器由三个部分组成分别为:

  • SWD协议读写芯片内部寄存器、RAM、Flash.
  • STM32 + SPI + Flash + USB + FAFTS,通过USB虚拟出一个U盘,将要烧写的BIN文件放到这个U盘中,就可以烧写了.
  • OLED + 按键,实现简单的操作页面.

本章先对SWD协议进行解析,整个文章主要分了三个部分,第一部分是对SWD协议进行简介;第二部分是对SWD协议进行物理层上的解析;

1  SWD协议简介

SWD的全称应该是The Serial Wire Debug Port(SW-DP),也就是串行调试端口,是ARM目前支持的两种调试端口之一,另一个调试端口叫做JTAG Debug Port,也就是我们常用的J-link上面的调试端口(JTAG模式下)。

基于ARM CoreSight调试构架,SWD可以通过传输数据包来读写芯片的寄存器。

2  SWD物理层协议解析

SWD需要三根线与目标的MCU连接,分别为SWDIO、SWDCLK和GND.后面的内容中,HOST为主机,就是我们提供的SCK的一方;TARGET为目标MCU。

  • SWDIO为双向Data线,主机读写目标芯片数据。
  • SWDCLK为时钟线,类似于SPI需要由主机提供时钟。同时,数据都是在时钟下降沿读取,上升沿进行数据翻转。
  • GND为双向Data口,主机读写目标芯片数据。

2.1  SWD通信时序分析

首先放个写操作成功的时序图。

从图中可知,整个流程大致分为三部分:

  • 第一部分:HOST -> TARGET 主机发送读写命令,这部分指定了读写操作,指定了要访问AP还是DP,还指定了ADDR。
  • 第二部分:TARGET -> HOST 目标MCU回复Ack,通知主机是否可以继续操作。
  • 第三部分:HOST -> TARGET 主机写数据

下面,我们针对图中的一些名词做出解释:

  • Start: 一位起始位,值为1。
  • APnDP: 一位,表示访问的是DP寄存器还是AP寄存器,0:DP,1: AP。
  • RnW: 一位,表明是读操作还是写操作,0:写,1:读。
  • ADDR[2:3]:两位,给出DP或者AP寄存器地址ADDR[3:2]地址区域,发送时低位在前(后面有具体说明)。
  • Parity: 一位 为前面的数据包提供奇偶校验。在包头中的校验位校验了APnDP, RnW and A[2:3],在数据中的校验位校验了32位的数据。
  • Stop: 一位,停止位,值为0。
  • Park: 一位,在传输该位时,主机不对SWDIO进行驱动,该线由硬件拉高(上拉),所以这位读作一。
  • Trn: 调转周期,在该周期中,不对线进行前驱动,实际应用时,这个时候要将SWDIO引脚的输入输出状态翻转。这个周期的时间由TURNROUND控制(位于WCR寄存器中)。
  • Ack[0:2]: 三位,目标MCU到主机的响应,低位在前。100:成功,010:等待,001:失败。
  • WDATA[0:31]: 32位的写数据包,由主机发送给目标MCU。
  • RDATA[0:31]: 32位的读数据包,由MCU发送给主机。

值的注意的是,Trn,调转周期,因为我们是单总线通信,一根线上既有写又有读,而这个Trn就是发生在写读切换的时候的一个延时。

2.2  SWD 寄存器简介

SWD通信的时候主要涉及的寄存器就两个,一个DP,一个AP。

如图所示,DP就是Debug port,AP 就是 Access port。如果要访问内核寄存器,就得先配置DP->AP->MEM-AP。

2.2.1  DP寄存器

DP寄存器如下图,地址就是我们在包头中的ADDR[2:3],这两位指示的地址。具体的寄存器实在是太多了,具体的请参考《ARM Debug Interface v5 Architecture Specification》。

值的说明的是,总线复位之后,然后进行JTAG和SWD的切换操作(发0X79,0XE7或者0X6D,0XB7),然后必须先读下IDDCODE,判断下MCU的类型,然后才能继续别的操作。

2.2.2  AP寄存器

AP寄存器如下路,AP寄存器相比较于DP则是复杂了很多。具体的寄存器实在是太多了,具体的请参考《ARM Debug Interface v5 Architecture Specification》。

2.3  SWD通信流程

2.3.1  SWD复位

如下图,ARM对SWD的复位有明确的说明,要求连续50个时钟周期的高电平,认为是SWD复位,同时复位之后必须读一次IDCODE(位于DP寄存器中)。

下图是我的复位时序,多写了5个周期的电平

2.3.2  SWD读IDCODE

IDCODE位于SWD DP寄存器中,将地址设置为00b,读DP操作,就可以读到IDCODE了,根据内核型号不同,一般第一数字不一样,我的是0x0BB11477.

下图是我的读IDCODE时序

2.3.3  SWD清除错误标志位,并且使能AP调试

通过写DP中的APBORT[4:1],来清除错误标志位。

通过写DP中的CTRL/STAT[30]和CTRL/STAT[28]使能AP调试

2.3.4  SWD读取AP IDR(也就是AP寄存器的ID CODE)

读取AP寄存器的步骤:

  • 第一步通过写DP 中的SELECT寄存器,确定APBANK.
  • 第二步通过AP命令包头的地址,确定APBANK内部的位置,发送读AP命令。
    如图DP SELECT寄存器。

如图,AP寄存器,APBANK决定的是BANK 0x0 -> BANK 0xF.ADDR[3:2]决定的是BANK内部的地址(ADDR[1:0]都是0),0x00,0x04,0x08,0x0C,

所以,如果我要读取AP IDR的话,就先设置DP SELECT寄存器中的APBANKSEL为0xF,然后直接发读AP命令,ADDR[3:2]为11b.

2.3.5  SWD读写MCU任意寄存器

读取MCU任意寄存器的步骤:

  • 第一步通过写DP 中的SELECT寄存器,确定APBANK为BANK0.
  • 第二步通过AP命令包头的ADDR[3:2]地址,确定APBANK内部的地址为0x00(CSW),发送写AP命令。数据为0x23000002(该值可能有问题,此处请自行查看CSW寄存器描述,如果这个值写完之后依然读不出DRW,请联系我).
  • 第三步通过AP命令包头的ADDR[3:2]地址,确定APBANK内部的地址为0x04(TAR),发送写AP命令。数据为要读取的寄存器地址。
  • 第四步通过AP命令包头的ADDR[3:2]地址,确定APBANK内部的地址为0x0C(DRW),发送读AP命令。一次读回来的数据无效。
  • 第五步通过AP命令包头的ADDR[3:2]地址,确定APBANK内部的地址为0x0C(DRW),发送读AP命令。此时读回来的数据为正确数据。(这里读DP的RDBUFF也可以,详细请自行查阅寄存器文档)

步骤一波形:

步骤二波形:

步骤三波形:

步骤四波形:

步骤五波形:

写入MCU任意寄存器的步骤:

  • 第一步通过写DP 中的SELECT寄存器,确定APBANK为BANK0.
  • 第二步通过AP命令包头的ADDR[3:2]地址,确定APBANK内部的地址为0x00(CSW),发送写AP命令。数据为0x23000012(该值可能有问题,此处请自行查看CSW寄存器描述,如果这个值写完之后依然不能写入DRW,请联系我).
  • 第三步通过AP命令包头的ADDR[3:2]地址,确定APBANK内部的地址为0x04(TAR),发送写AP命令。数据为要读取的寄存器地址。
  • 第四步通过AP命令包头的ADDR[3:2]地址,确定APBANK内部的地址为0x0C(DRW),发送写AP命令。写入成功。

步骤一波形:

步骤二波形:

步骤三波形:

步骤四波形:

特殊说下,设置好CSW[5:4]之后,每次读写DRW之后,DRW的地址会自动+1,省去了需要每次重新设置地址的麻烦。

以上,本章的内容就结束了,通过本章的内容,可以实现SWD任意读取MCU寄存器,如果问题,请联系我~~~
参考文献:ARM Debug Interface

posted @ 2021-05-30 20:17  洛神殇  阅读(11346)  评论(7编辑  收藏  举报