DW1000芯片的RF测试与校准（三）：OTP区域

DW1000芯片的RF测试与校准：OTP区域

说明

DW1000内置一块一次性可编程（One time program,OTP）空间，用于保存芯片出厂时的设置或者用户的校准数据。用户产品在出厂时，可以把相关RF参数校准值写到该空间，然后在使用时读出来。

空间映射图

上图为OTP空间的分配图，其中

• DecawaveTest部分为原厂出厂时写好的内容，包括芯片ID、芯片内部LDO的校准值等数据
• Customer部分为用户使用的芯片RF参数校准值保存空间。该部分内容出厂时为空，留给用户产品校准时使用。（对于DWM1000模组产品，原厂出厂时这部分也会校准好并写入到OTP中，无需用户再校准）

读写方法

在原厂提供的API库中，提供了相关OTP读写接口和OTP地址的宏定义参数，方便用户使用OTP。API的相关接口如下：

• 读OTP

• 写和验证

示例

在API库的例程里有许多示例操作，特别是相关初始化函数

// OTP addresses definitions
#define LDOTUNE_ADDRESS (0x04)
#define PARTID_ADDRESS (0x06)
#define LOTID_ADDRESS  (0x07)
#define VBAT_ADDRESS   (0x08)
#define VTEMP_ADDRESS  (0x09)
#define XTRIM_ADDRESS  (0x1E)

ldo_tune = _dwt_otpread(LDOTUNE_ADDRESS);

注意

• OTP区域只能写入一次，无法多次写入

• DW3000系列的OTP和1000的设计基本一致