摘要： IC开短路测试(open_short_test),编程器测试接触不良、开短路用的该是这个原理http://kitebee.gnway.net/forum.php?mod=viewthread&tid=69654IC开短路测试(open_short_test)又叫continuity test 或contact test,它是一种非常快速发现芯片的各个引脚间的是否有短路，及在芯片封装时是否missing bond wires.通常都会被放测试程序的最前面.它还能发现测试时接触是否良好，探针卡或测试座是否有问题.开短路测试的测试原理比较简单，分open_short_to_VDD 测试和op 阅读全文

摘要： http://www.ideyi.org/article/11-05/2575971305526398.html?sort=2068_2073_2092_0MP1593制作的DC-DC稳压电源，这款DC-DC稳压电源的体积很小，但它能提供2A 甚至最高达3A 的输出电流，并且其性能指标非常好，下面就... 阅读全文