06 2024 档案
摘要:8.2.3 振荡器的相位噪声 振荡器的相位噪声是一个基本特征。因为不存在一个无损失的振荡器(那就是永动机了),任何振荡器都需要一些有源电路来维持振荡,而这些有源电路会引入噪声。具体哪个器件引入了噪声的机理很微妙,到了后来才逐渐变得易于理解。但是,相位噪声的现象学事实是公认的,并且足以作为集成电路振荡
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摘要:8.2.2 LC振荡器 LC振荡器是调谐振荡器的一个例子。环形振荡器使用有源放大器级来提供环路不稳定性所需要的180°相移,调谐振荡器向反馈环路中插入调谐(谐振)电路来提供相移。在LC振荡器的例子中,谐振是由一个并联的LC电路实现的。 一个简单的LC振荡器如下图(a)所示,其小信号差分半边电路如下图
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摘要:8.2.1 环形振荡器 在这一章节,我们将介绍振荡器的基本概念。环路振荡器可以分成若干种,但两种主要的分类依据是直接产生正弦信号还是产生方波(或者三角波)信号输出。正弦波输出振荡器常被用于一些频率选择或者反馈电路的调谐电路,而方波输出振荡器常被用于一个非线性反馈电路例如弛豫振荡器或者环形计数器。使用
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摘要:8.1.3 锁相环的锁相过程 为了理解PLL的锁相过程,我们可以考虑一个简单的例子。假定分频系数\(N=1\),从而\(\phi_{div}=\phi\)。更进一步,假定输入信号一开始等于VCO的自由运行频率,系统一开始锁定在\(\phi_d=0\),Dion给滤波器的输出\(V_{cntl}\)也
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摘要:8.1.2 锁相环的基本组件 压控振荡器(VCO):PLL的一个关键组件是VCO,一个有着震荡输出的电路(以正弦波或者其他的时钟信号的形式),其频率取决于输入的控制电压\(V_{cntl}\)。因此,假定VCO的输出为随着时间缓慢变化的正弦电压,其可以通过下面的方程表示: \[V_{osc}(t)=
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摘要:8.1.1 锁相环基本介绍 几乎所有的数字,射频电路以及大部分的模拟电路。不幸的是,集成电路振荡器本身并不适合用于高性能电路中的频率/时间参考源。一个主要的问题是它们的震荡频率并不能精确知道。更进一步的,集成电路振荡器的时钟抖动(可以被认为是频率上的随机波动)对于大部分应用来说太大。因此,集成电路只
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摘要:7.5.6 时间交错型ADC 我们可以通过将多个ADC做并行来实现非常高速的ADC[Black, 1980]。下图展示了一个四通道时间交错型ADC的架构图: 此处,\(\phi_0\)是一个四倍于\(\phi_1\)到\(\phi_4\)的速率的时钟。此外,\(\phi_1\)到\(\phi_4\)
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摘要:7.5.5 折叠型ADC 我们刚了解完输入放大器的数量如何通过插值型架构来减少。但是对于一个N bit的ADC来说,仍然需要\(2^N\)个锁存比较器。这个大量的比较器数量可以通过折叠型ADC架构来减少。折叠型ADC架构类似于两步型ADC,一组LSB分离于一组MSB进行独立的查找。但是,相比两步型A
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摘要:7.5.4 插值型ADC 插值型ADC如下图所示使用输入放大器,这些输入放大器在其阈值电压附近表现为线性放大器,但是可以在它们的差分输入够大时饱和。作为结果,后续的锁存器只需要决定放大器输出的符号,因为输入信号和阈值电压之差已经被放大。同时,连接到\(V_{in}\)的输入放大器数量通过在这些放大器
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摘要:7.5.3 两步型ADC 两步型ADC常被用于高速中精度的ADC。他们相比Flash ADC能够提供一些额外的优点。具体来说,两步型ADC需要更少的硅面积,消耗更少的能量,有着更小的电容负载,并且比较器需要分辨的电压相比Flash ADC更宽松。两步型ADC的吞吐率可以接近Flash ADC,尽管他
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摘要:7.5.2 周期型ADC 周期型ADC(或者叫算数ADC)与逐次比较型ADC的工作原理很像,但是与逐次比较型ADC每次减半参考电压不同,周期型ADC每次保持参考电压不变,而将误差电压放大两倍。一个有符号周期型ADC的流程图如下图所示: 周期型ADC的结构图如下图所示[McCharles, 1977;
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摘要:7.5.1 积分型ADC 积分型ADC是一种流行的对于慢速信号做高精度数据转换的方式。这类ADC有着非常低的失调与增益误差,且高度线性。更进一步的优势是积分型ADC在实现时仅仅需要很少的电路。积分型ADC的一个常用场景是用在测量仪器中,例如电压表或者电流表。 双斜积分型ADC的简化架构图如下图所示:
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摘要:7.4.5 多比特Σ-Δ ADC 尽管1bit过采样ADC有着可以实现高线性度的优点,但其也有一些缺点。例如,动态范围小;1bit过采样ADC可能会由于反馈中的高度非线性出现不稳定;还有闲音(idle tones)的问题,即当输入信号接近直流或者是一个幅值为很小的正弦波时,在输出端就会产生一个很明显
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摘要:7.4.4 Σ-Δ ADC的抽取滤波器 有许多在过采样ADC中实现数字抽取滤波器的方式,这里我们会介绍多级和单级两种流行方法。 首先介绍通过多级方法实现抽取滤波器,如下图所示: 此处,第一级的FIR滤波器\(T_{sinc}(z)\)消除了许多量化噪声,使得其输出可以降采样到奈奎斯特频率的四倍(即\
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摘要:7.4.3 Σ-Δ ADC的调制器 一个通用的\(\Delta \Sigma\)调制器与其线性模型如下图所示: 这个结构被称作插值结构,类似于通过一个运放和反馈形成的放大器。在这个结构中,当运放增益很高时,反馈降低了运放输出级在反馈放大器输出信号中的低频噪声。在高频,当运放增益低时,噪声无法得到减小
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摘要:7.4.2 Σ-Δ ADC的系统架构 一个Σ-Δ 过采样ADC的架构如下图所示: 第一级是一个连续时间抗混叠滤波器,需要限制输入信号低于过采样频率\(f_s\)的一半。当过采样率很大时,抗混叠滤波器往往可以分常见大,例如一个简单的RC低通滤波器。在抗混叠滤波器之后,连续时间信号\(x_c(t)\)被
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摘要:7.4.1 过采样ADC的基本介绍 过采样ADC对于高精度,中低速应用来说非常流行。例如高质量数字音频处理和一些无线系统中的基带信号处理。它们如此流行的一个主要原因是过采样ADC降低了对于模拟电路的需求,转而需要更多复杂的数字电路。这种权衡随着亚微米CMOS工艺逐渐成熟,高速数字电路越来越容易实现而
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摘要:In-/Near-Memory Computing 《存内/迳存计算》 作者:Daichi Fujiki, Xiaowei Wang, Arun Subramaniyan, and Reetuparna Das University of Michigan, Ann Arbor 翻译: Yiyang
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摘要:《阻变存储器 Resistive Random Access Memory(RRAM)》——从器件到阵列结构(From Devices to Array Architectures) [原] Shimeng Yu ,[译] Yiyang Yuan 摘要(Abstract) 阻变存储器(Resisti
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摘要:7.3.2 Flash ADC的设计问题 接下来我们讨论一些在构建高速Flash ADC时需要被解决的关键设计问题。 输入电容负载:大量的比较器被连接到\(V_{in}\)上,导致节点\(V_{in}\)是有着一个大的寄生负载。这样一个大的电容负载一般会限制Flash ADC的速度,并且需要一个强力
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摘要:7.3.1 并联比较型ADC基本介绍 并联比较型ADC(后续都称作Flash ADC)是实现超高速转换器的标准方式。Flash ADC的输入信号被并行的馈入\(2^N\)个比较器中,如下图所示: 每个比较器被连接到电阻串的节点上。任何连接到电阻串节点的比较器,如果\(V_{ri}\)大于\(V_{i
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摘要:7.2.3 每阶段k-bit流水线ADC 通过增加中间级增益和每级的比较器可以在每级解析多于1比特。信号流图类似之前介绍的每次迭代2比特的逐次逼近型ADC。一个通用的k比特级如下图所示: k比特副ADC的非线性可以通过增加额外的比较器通过数字方式来校正,类似于每级1.5比特架构[Lewis, 199
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摘要:7.2.2 每阶段1.5-bit流水线ADC 在每一级中增加一个比较器可以形成每级1.5比特架构,如下图所示[Lewis, 1992]: 每一级对输入进行一个三级量化: \[V_{i,x}=(b_{i,0}-0.5)\frac{V_{ref}}{4}+(b_{i,1}-0.5)\frac{V_{re
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摘要:7.2.1 流水线ADC基本介绍 流水线ADC和逐次比较型ADC类似,通过迭代搜索查找能够精确反应模拟输入信号的数字码。但是,相比较于通过单个模拟电路执行迭代,流水线ADC有着独立的模拟级来专门执行每次转换。流水线ADC的信号流如下图所示: 所有的模拟级在每个时钟周期时进行工作,并且每个执行一个差分
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摘要:7.1.6 多比特SAR ADC 我们目前讨论的逐次逼近型ADC在每个周期都通过单次的比较将搜索空间一分为二。这个搜索可以通过在每个周期进行多次比较来实现加速,每次将搜索空间切分为更小的区域。例如,如果我们想要猜测一个1到128之间的数时,我们除了提问“这个数是否大于64”,还可以同时提问“这个数是
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摘要:7.1.5 SAR ADC中的错误纠正 片上部件的最佳匹配精度可以达到百分之0.1,但是这对于有着10比特及以上精度的SAR ADC来说仍然不够,因此需要一种校正手段。其中一种用于获得16比特线性ADC的错误纠正方式如下图所示[Lee, 1984]: 在这种方式中,MSB部分通过二进制权重电容阵列来
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摘要:7.1.4 电荷重分布SAR ADC的速度估计 电荷重分布SAR ADC的主要速度限制来自于电容阵列和开关构成的RC时间常数。为了估计这个时间,考虑电容阵列复位后的简化模型,如下图所示: 此处\(R\),\(R_{s1}\)和\(R_{s2}\)表示位线,\(S_1\)和\(S_2\)开关上的开态电
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摘要:7.1.3 电阻电容混合SAR ADC 在DAC中组合使用电阻串和电容阵列的方式同样可以在ADC中使用,一种实现[Fotouhi, 1979]如下图所示: 第一步是将所有的电容都充电到\(V_{in}\)并重置比较器,接着,通过逐次逼近的方式来查找两个相邻的电阻节点具有大于和小于\(V_{in}\)
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摘要:7.1.2 基于电荷重分布的SAR ADC 实现SAR ADC最直接的方式是使用一个独立的DAC,并将其设置等于输入电压(在一个LSB范围内)进而修改流程图如下: 首个用这种方式实现的开关电容模拟系统即所谓的电荷重分布MOS ADC[McCreary, 1975]。通过这个转换器,采样和保持电路,D
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摘要:7.1.1 逐次比较型ADC基本介绍 实现数模转换器(ADC)的架构可以粗略的分成三种,如下表所示,分别为低到中速ADC,中速ADC和高速ADC: 在开始之前,需要注意在讨论ADC设计时,我们一般会忽略AD传输特性中的0.5LSB偏移。采用这个简化是为了不将暂时的概念复杂化。许多转换器架构大量使用了
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摘要:6.4.2 分段DAC 分段转换器是实现混合转换器的一种非常流行的方式[Schoeff,1979; Grebene, 1984; Schouwenaars, 1988]。一个6比特分段DA转换器如下图所示: 使用这种方式,两位MSB电流通过温度计编码方式,从三个相等的电流源中进行获取。高位通过开关连
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摘要:6.4.1 电阻电容混合DAC 在混合设计中,需要以不同的比例组合前三章中讨论的三种技术。混合设计是设计DA转换器中的一种流行方式,因为它能够组合不同方式的优点。例如,在设计中经常使用温度计码处理高几位MSB,而使用二进制码方式处理低几位LSB。使用这种方式,对于最需要处理毛刺以及高精度要求的MSB
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摘要:6.3.3 动态匹配电流源 在电流开关上使用动态技术是为了实现用于音频D/A转换器的高度良好匹配的电流源(大到16bit精度)[Schouwenaars,1988]。 这个方式被用于设计一个16-bit的音频D/A转换器,其中6位MSB通过温度计码实现。由于进度要求被限制在剩余位上,一个二进制阵列在
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摘要:6.3.2 单电源正输出DAC 一个快速单端正极输出D/A(一般用于视频RAM中,称为RAMDAC)如下图所示[Colles, 1988]: 此处,一个匹配反馈回路被用于精确已知的电流源偏置(注意,此处放大器的输入连接看上去是反的,但是由于信号通过\(Q_4\)反相,因此这样连接才是对的)。同时,为
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