FlexNVM无法写入成功的“问题”

MCU：S32K146

软件环境： S32DS Version: 2.2 

  S32 Design Studio S32K1xx RTM SDK 3.0.0 1.0.0.202001161613 com.nxp.s32ds.arm.sdk.s32k1xx_3.0.0.feature.feature.group NXP

在实际调试中发现，可能存在以下现象：

FlexNVM（该NXP芯片提供的硬件模拟EEPROM的功能）的功能被使用：

ret = FLASH_DRV_Init(&Flash1_InitConfig0, &g_flashSSDConfig);
ret = FLASH_DRV_SetFlexRamFunction(&g_flashSSDConfig, EEE_ENABLE, 0x0u, NULL);
//ret = FLASH_DRV_SetFlexRamFunction(&g_flashSSDConfig, EEE_ENABLE, 0x4u, NULL);

 

发现在某些情况下，调用SDK提供的FLASH_DRV_EEEWrite发现返回值不为STATUS_SUCCESS，同时数据的确没有被写入成功。
但是在使用PE调试器进行单步或者多步调试时会发现返回值为STATUS_SUCCESS，同时数据写入成功。

由于使用调试器无法正确复现问题，下面依然通过UDS的服务进行调试。
发现，在首次使用调试器刷写入程序，不断电的情况下，立马运行程序。会复现上述问题。
但是，在首次使用调试器刷写入程序后，断电的情况下，经过测试，无论板子是否连接了调试器，上述问题不会被复现。

解决思路：
在第一次使用调试器刷写入程序后，对板子进行断电（后，再上电）的处理。

这种reset的操作可以将芯片内部的硬件模拟EEPROM设置正确。
该问题无法通过代码的方式去解决（多次尝试，失败），只能通过上述正常操作进行规避。

可见，有时候发现的问题不一定是个bug，虽然是个问题，但是可以通过对MCU（或者说硬件）的合理使用来规避该问题。

【完】