摘要：
问题叙述：4-6 VLSI芯片测试 Diogenes教授有n个被认为是完全相同的VLSI芯片，原则上它们是可以互相测试的。教授的测试装置一次可测二片，当该装置中放有两片芯片时，每一片就对另一片作测试并报告其好坏。一个好的芯片总是能够报告另一片的好坏，但一个坏的芯片的结果是不可靠的。这样，每次测试的四种可能结果如下： A芯片报告 B芯片报告 结论 B是好的 A是好的 都是好的，或都是坏的 B是好的 A是坏的 至少一片是坏的 B是坏的 A是好的 至少一片是坏的... 阅读全文
摘要：
问题叙述： *2.3-7 请给出一个运行时间Θ（n lg n )的算法，使之能在给定一个由n个整数构成的集合S和另一个整数x时，判断出S中是否存在有两个其和等于x的元素。算法分析： 1）方法一：穷举 对于集合S，需要找出2个元素，其和为x。可以穷举S中任意2元素，求其和，若有和为x，返回true；若无，返回false。 1 bool is_sum_exist( vector< int > &S, int x ) 2 { 3 if( S.empty() ) 4 return false; 5 for( vector< int >::iterat... 阅读全文