BASIC-23 芯片测试

BASIC-23 芯片测试

题目

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问题描述

有 n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

输入数据第一行为一个整数 n，表示芯片个数。

第二行到第 n+1 行为 n*n 的一张表，每行 n 个数据。表中的每个数据为 0 或 1，在这 n 行中的第 i 行第 j 列（1≤i, j≤n）的数据表示用第 i 块芯片测试第 j 块芯片时得到的测试结果，1 表示好，0 表示坏，i=j 时一律为 1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3

题解

import java.util.Scanner;

public class BASIC_23 {
    public static void main(String[] args) {
        Scanner scanner = new Scanner(System.in);
        int n = scanner.nextInt();
        int[][] arr = new int[n][n];
        for (int i = 0; i < n; i++) {
            for (int j = 0; j < n; j++) {
                arr[i][j] = scanner.nextInt();
            }
        }
        scanner.close();
        int[] goods = new int[n];
        for (int i = 0; i < n; i++)
            for (int j = 0; j < n; j++)
                if (arr[i][j] != 0)
                    goods[j]++;
        for (int i = 0; i < goods.length; i++)
            if (goods[i] > n / 2)
                System.out.print(i + 1 + " ");
    }
}