摘要: 缺陷探测率 DDP = 测试者发现的错误数 / (测试者发现的错误数 + 客户发现并反馈技术支持人员进行修复的错误数) 应用性能指标 Apdex=(满意的样本数+容忍的样本数/2)/总样本数 二叉树结点计算 (1)二叉树第i层(i>=1)上最多有2^(i-1)个结点.(2)高度为k的二叉树最多有2^ 阅读全文
posted @ 2024-05-16 12:45 小墨儿 阅读(77) 评论(0) 推荐(0) 编辑