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Design for Testability（DFT）的基本知识点 [TOC] 基础知识 1. CP和FT + CP 是(ChipProbe)的缩写,指的是芯片在wafer(晶圆）的阶段,就通过探针卡扎到芯片管脚上对芯片进行性能及功能测试,有时候这道工序也被称WS(WaferSort) + FT 是 阅读全文