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Frommoon
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2021年4月12日
芯片测试
摘要: 1.芯片测试 题目描述 有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知①好芯片比坏芯片多。 每个芯片都能用来测试其他芯片。②用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。 给出所有芯片的测试结果,
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posted @ 2021-04-12 21:01 Frommoon
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