2022年4月24日
scan详解
摘要： 在可测性设计（DFT）技术中，scan可以说是最重要的一部分。由于对时序电路直接进行测试十分困难，而扫描测试方法通常能很好地解决这一问题。 Scan 技术最初由Kobayashi等人提出来的，它的优点是基本原理是时序电路可以模型化为一个组合电路网络。 Scan design的设计目标是能够提高可控性 阅读全文
posted @ 2022-04-24 14:05 大地丶 阅读(1560) 评论(0) 推荐(0) 编辑