USB 几种常规眼图测试（USB 信号完整性测试）
USB眼图测试通常用于评估USB信号的质量和传输性能。眼图测试主要分为以下几类：
High speed 测试
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PHY测试：这是USB物理层（PHY）的眼图测试，主要针对信号完整性和抖动等参数进行测量。PHY测试会直接分析数据线（如D+/D-）的信号波形，评估信号在传输过程中受到的干扰、失真以及反射。通过这些测试，可以确定PHY是否符合USB标准的信号要求。（针对的device或者host）
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HOST测试：这是针对USB主机（Host）的眼图测试。通常是在主机端的发送或接收端进行测量，确保主机的信号符合USB规范的幅度、上升/下降时间、抖动等参数要求。此类测试会验证主机的信号质量，以保证主机和设备之间的稳定通信。
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近远端测试；（device测试）针对USB设备端的眼图测试。通常用于验证设备发送和接收的信号质量，确保其符合USB规范。尤其在高速（HS）和超高速（SS）模式下，信号的抖动、幅度、上升/下降时间等都需要满足标准要求，以保证与主机通信的稳定性
Super speed 测试：
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PHY测试：这是USB物理层（PHY）的眼图测试，主要针对信号完整性和抖动等参数进行测量。（针对的device或者host）
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HOST测试：这是针对USB主机（Host）的眼图测试。通常是在主机端的发送或接收端进行测量，确保主机的信号符合USB规范的幅度、上升/下降时间、抖动等参数要求。此类测试会验证主机的信号质量，以保证主机和设备之间的稳定通信。
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近远端测试；（device测试）针对USB设备端的眼图测试。通常用于验证设备发送和接收的信号质量，确保其符合USB规范。尤其在高速（HS）和超高速（SS）模式下，信号的抖动、幅度、上升/下降时间等都需要满足标准要求，以保证与主机通信的稳定性
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接收端（RX）测试：这是模拟接收端如何解码信号的眼图测试。该测试专注于设备在接收数据时的信号质量，评估噪声、信号幅度、误码率（BER）等关键参数，确保接收端能够正确识别信号。
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发送端（TX）测试：针对发送端输出信号的眼图测试。该测试评估发送端信号的幅度、对称性、抖动和信号过冲/下冲情况，确保发送端的信号在长距离传输时不易失真。
HUB测试：针对USB集线器（Hub）的眼图测试。USB Hub作为一个中继设备，它的信号质量会影响链路上多个设备的通信。因此，Hub的眼图测试要求更高，特别是在多层Hub链路时。Hub测试会关注不同端口的信号一致性、抗干扰能力和数据转发的稳定性。
连接器和电缆测试：针对USB连接器和电缆的眼图测试，用于验证其对信号传输的影响。这类测试会关注电缆和连接器的阻抗匹配、插入损耗和反射损耗，确保整体链路的信号质量。
EMI/EMC测试：虽然不是严格意义上的眼图测试，但在高频信号中EMI（电磁干扰）和EMC（电磁兼容性）测试会影响信号的完整性。通过这种测试，可以评估设备的信号抗干扰能力，以减少外部电磁环境对USB信号的影响。
- 开口高度（Eye Height）：
通常是指眼图中高电平部分的电压（V_H）与低电平部分的电压（V_L）之间的差值。
例如，USB 3.0的高电平电压一般在2.5V到3.6V之间，低电平电压通常在0V到0.3V之间。
- 开口宽度（Eye Width）：
这不是电压，而是表示在时间上开口的持续时间。尽管与电压无关，但开口宽度与信号在特定电平上保持的时间有关。
在USB眼图中，RX和TX电平代表的是不同的电压状态，分别对应于眼图的不同位置：
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TX Level：
- 高电平（V_H）：对应眼图中顶部的电压水平，表示发送信号为逻辑“1”时的电压。
- 低电平（V_L）：对应眼图中底部的电压水平，表示发送信号为逻辑“0”时的电压。
- 开口高度（Eye Height）是这两个电平之间的差值，即 ( V_H - V_L )。
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RX Level：
- 接收高电平（V_RH）：对应眼图中的顶部部分，表示接收端解码逻辑“1”时的电压。
- 接收低电平（V_RL）：对应眼图中的底部部分，表示接收端解码逻辑“0”时的电压。
- 接收端的开口高度（Eye Height）同样是 ( V_{RH} - V_{RL} )。
在理想情况下，TX电平应在接收端被正确接收为RX电平，以保证数据的准确解码。开口的大小和形状反映了信号的完整性和质量，理想情况下RX和TX电平应该尽量接近。
TX驱动电平会直接影响眼图的开口特性。具体来说，TX驱动电平对眼图开口的影响主要体现在以下几个方面：
TX驱动电平会直接影响眼图的开口特性。具体来说，TX驱动电平对眼图开口的影响主要体现在以下几个方面：
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开口高度（Eye Height）：
- 较高的TX驱动电平通常会增加开口高度，因为发送的高电平信号更强，电压差增大，从而使得眼图中“眼睛”的开口更大。
- 这意味着更容易区分逻辑“0”和逻辑“1”，提高了信号的可读性和稳定性。
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开口宽度（Eye Width）：
- TX驱动电平过低可能导致信号在接收端不够强，从而影响信号的上升和下降时间，导致开口宽度变窄。
- 信号宽度的减小可能会导致接收端在错误的时间采样，从而增加误码率。
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抖动和失真：
- 较低的TX驱动电平可能导致更高的抖动和失真，这会进一步影响开口的形状和大小。
- 抖动增加会导致开口变得模糊，影响信号解码的可靠性。
