摘要： DFT是指可测试性设计，是芯片设计的一部分。 其设计出的电路的最终目的是为了使能生产测试功能。在前几次的文章中， 我们给大家分享了DFT设计相关的一些基础知识。同时也给大家分享了最终测试部门的工作概述。 但是，仅仅设计出测试性的电路能使能测试吗？答案显而易见。 测试过程离不开测试激励的加载。 所谓的 阅读全文

摘要： TE【1】从设计流程上来说，是DFT的客户。DFT逻辑设计的合理性，有效性乃至便捷性都需要通过TE的最终真刀实枪的上了机台才见分晓。 可以说TE是检测DFT成绩的最直接部门。 无论哪行哪业，要想做到出色，了解客户的需求是绕不开的一个大项。作为DFTer，了解TE的工作也是我们的必修课之一。 这一次， 阅读全文

摘要： 看到这个标题，很多粉丝也许会想，DFT的专题，讲时钟干什么？ 事实上，时钟的设计和DFT息息相关。如何在测试模式下保证各个模块的时钟资源都能被灵活控制？如何利用现有的功能性时钟逻辑实现DFT控制，节约芯片资源？这些都属于DFT比较进阶的内容了。 DFT想要做的好，就不能将自己的视野局限于小DFT，即 阅读全文

摘要： 存储器是现代电子技术发展必不可缺的器件之一。在我们购买电脑，手机的时候，存储器的大小关系着运行速度的快慢，是重要的参考参数之一。 事实上，这里的存储器指的是DRAM，是通过特定的接口按照一定的协议接入到SoC上的。 SoC的内部也到处充斥着不同大小不同型号的存储器。 用在cpu内部的就是我们熟悉的l 阅读全文

摘要： 集成电路的生产异常复杂，是人类制造业向微观世界发展的巅峰前沿。任何生产偏差，设计漏洞甚至一粒PM2.5都会导致芯片出现各种缺陷，事实上生产过程中的造成defect的颗粒大小远远小于PM2.5 。Scan Chain(扫描链测试)作为数字集成电路测试的重要方法之一，可以有效的筛选出坏片，提高产品质量。 阅读全文

摘要： 在很多人的印象里，DFT（可测试性设计）就是简单的利用EDA工具，在IC设计的某一阶段，通过工具对芯片逻辑自动优化重组，产生DFT测试逻辑。 然而在现实中， DFT解决方案远非push button那么简单。尽管EDA厂商在提供DFT解决方案时候的愿景是实现测试逻辑生成的最大可能性的自动化，随着芯片 阅读全文

摘要： 【From EETOP 论坛】 大家好，最近中兴事件火热，连朋友圈的医生，律师， 退休的大爷大妈们都在讨论，似乎有全民ICer的架势。分析的文章层出不穷，咱们DFT Eliter就不发表评论了，专心分享IC业内知识，培养全能DFT人才，此为正道。 大家可能问到：DFT到底是什么？你们是芯片设计师？还 阅读全文