会员
周边
众包
新闻
博问
闪存
所有博客
当前博客
我的博客
我的园子
账号设置
简洁模式
...
退出登录
注册
登录
lelin
博客园
首页
新随笔
联系
管理
订阅
2022年6月9日
DFT测试-OCC电路介绍
摘要: SCAN技术,也就是ATPG技术-- 测试std-logic, 主要实现工具是:产生ATPG使用Mentor的 TestKompress和synopsys TetraMAX;插入scan chain主要使用synopsys 的DFT compiler。通常,我们所说的DCSCAN就是normal s
阅读全文
posted @ 2022-06-09 09:38 春风一郎
阅读(2664)
评论(0)
推荐(0)
编辑
公告