10 2023 档案
摘要:四舍五入(round) 前面讲的都是对数据进行扩位,这一节说的是对数据截位时如何进行四舍五入以提高截位后数据的精度。 假设一个9Q6格式的数据为:9’b011.101101,现在只想保留3位小数位,显然必须把最后三位小数位截掉,但是不能直接把数据截成6’b011.101,这样是不精确的,工程上一般也
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摘要:1.verilog浮点表示 定点运算有两个缺点:①可处理动态范围小;②由截尾舍入产生的百分比误差随着数的绝对值的减小而增加,这个问题可利用浮点数来解决。根据IEE754-1985标准,非负数n可以用两个参数表示,即尾数M和指数E,其表示形式为:$\eta =M×2^{E}$ sign exponen
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摘要:如下图所示,一颗芯片最终做到终端产品上,一般需要经过芯片设计、晶圆制造、晶圆测试、封装、成品测试、板级封装等这些环节。 在整个价值链中,芯片公司需要主导的环节主要是芯片设计和测试,其余的环节都可以由相应的partner来主导或者完成。 半导体测试定义与基本工作机制:半导体测试作为半导体设计、生产、封
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