2023年8月7日
第六章 内建自测试
摘要： 1 内建自测试概念 1.1 背景 1.ATE测试成本 2.Memory测试的特殊性 Memory内部需要测试的单元多 Memory内部单元规整 3.客户对于在线测试的需求：汽车电子的可靠性要求 1.2 基本流程 Start BIST：外部控制信号，开始自测试 Test Controller控制Pat 阅读全文
posted @ 2023-08-07 09:17 几何0814 阅读(1290) 评论(0) 推荐(0) 编辑