摘要:
1.JTAG概念 1.1 背景介绍 1.1.1 传统针床测试 机台芯片测试 VS PCB板上测试 板级芯片间测试 传统针床测试 芯片管脚日益增多 多层印刷电路板 新型边界扫描测试 1.1.2 边界扫描测试(Boundary Scan) 目的: 板级芯片互联线测试 PCB板级芯片测试:如果针对板级某个 阅读全文
摘要:
1.Tessent ATPG流程 1.1 ATPG基本概念 ATPG: Auto-Test-pattern-Generation:自动化测试向量生成 基于故障或者电路结构,而非功能 生成向量集合 基于布尔逻辑运算的算法,将测试向量输入待测芯片,再对比芯片期望输出 ATPG算法:工具首先会使用各种随机 阅读全文