摘要：
1 IJTAG的概念 1.1 背景介绍 JTAG框架 基本目标：实现芯片间互联线的测试 扩展功能：实现芯片内各种IP的调试 通过TDR（数据寄存器）操纵和观测IP 通过指令集激活某一个IP的TDR JTAG缺点 片上IP数量导致JTAG指令集的增加 片上IP数量导致指令解码器变得非常复杂 广播架构不 阅读全文
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1 仿真的基础知识 1.1 仿真环境 TestBench 产生测试激励 将测试激励施加在待测逻辑上 分析待测逻辑结果 待测逻辑 1.2 仿真算法 基于时间的仿真 处理连续的时间，效率较低 基于事件的仿真 处理电路状态发生变化的情况 基于周期的仿真 处理时钟的边沿 不可用于异步电路 相较于基于事件的仿 阅读全文
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1 内建自测试概念 1.1 背景 1.ATE测试成本 2.Memory测试的特殊性 Memory内部需要测试的单元多 Memory内部单元规整 3.客户对于在线测试的需求：汽车电子的可靠性要求 1.2 基本流程 Start BIST：外部控制信号，开始自测试 Test Controller控制Pat 阅读全文
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1.JTAG概念 1.1 背景介绍 1.1.1 传统针床测试 机台芯片测试 VS PCB板上测试 板级芯片间测试 传统针床测试 芯片管脚日益增多 多层印刷电路板 新型边界扫描测试 1.1.2 边界扫描测试（Boundary Scan） 目的： 板级芯片互联线测试 PCB板级芯片测试：如果针对板级某个 阅读全文
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1.Tessent ATPG流程 1.1 ATPG基本概念 ATPG： Auto-Test-pattern-Generation：自动化测试向量生成 基于故障或者电路结构，而非功能 生成向量集合 基于布尔逻辑运算的算法，将测试向量输入待测芯片，再对比芯片期望输出 ATPG算法：工具首先会使用各种随机 阅读全文
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1.常用的测试压缩技术 1.1 测试压缩的驱动力 工艺复杂度导致错误类型的增加 芯片复杂度导致扫描单元数的增加 测试向量的增加 测试管脚的有限性 测试机台内存容量的有限性 测试时间的增加 1.2测试压缩的目标 测试开销 减轻测试机台需要存储的测试向量的大小 减少测试时间 减少测试需要的管脚数 测试质 阅读全文
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一、扫描链插入的流程 1.背景回顾 为了可观测性、可测试性，DFT将D触发器替换成了带有MUX的DFF，如下图所示。 D端：常规数据输入端口； S端：扫描链数据输入端口； SE端：工作模式选择端； CK端：时钟； Q端：数据输出端； 通过将电路中的寄存器替换成扫描寄存器，可以有效检查出电路在制造过程 阅读全文
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继承和抽象类 继承 类型判断 抽象类 通过abstract关键字实现。 定义 如果类中有抽象字段或抽象方法，那么该类就是一个抽象类。 抽象字段：没有初始化值的变量 抽象方法：没有方法体 格式 1 abstract class 抽象类名{ 2 val/var 抽象字段名:类型 3 def 方法名(参数 阅读全文
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一、语义解释 1.__name__ 是python内置属性，是系统全局变量！每一个py文件都有一个属于自己的__name__ 如果py文件作为模块被导入（import），那么__name__就是该py文件的文件名（模块名） 如果py文件直接运行时，那么__name__默认等于字符串”__main__ 阅读全文
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一、enumerate()是python的内置函数、适用于python2.x和python3.x 在字典上是枚举、列举的意思 参数为可遍历/可迭代的对象(如列表、字符串) 多用于在for循环中得到计数，利用它可以同时获得索引和值，即需要index和value值的时候可以使用enumerate enu 阅读全文