摘要： 一 小数据量的存储： 1.1：可以利用电容剩余电量（或法拉电容、电池）+掉电检测：在MCU的线性电源的前端引入检测电压经合适分压到MCU，通过比较器中断或掉电检测中断发现电压跌落，然后开始保存数据，通过实验测试跌落时能够保存多少数据，当不满足要求时增大前端电容。 1.2 ：利用mcu自带的eepro 阅读全文