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杰瑞鼠
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2017年6月3日
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摘要: 一 小数据量的存储: 1.1:可以利用电容剩余电量(或法拉电容、电池)+掉电检测:在MCU的线性电源的前端引入检测电压经合适分压到MCU,通过比较器中断或掉电检测中断发现电压跌落,然后开始保存数据,通过实验测试跌落时能够保存多少数据,当不满足要求时增大前端电容。 1.2 :利用mcu自带的eepro
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posted @ 2017-06-03 11:39 杰瑞鼠
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