2021年10月27日
STM32 串口 高压测试下 过载问题及处理方式
摘要： 情景: 高压测试下,MCU因为串口接受方向数据过载,导致程序BUG,查找寄存器 ISR → OER 标志为1. 处理方案一: 清除该标志位, 在中断服务函数 USART2_IRQHandler 中针对 这个标志位单独处理 __HAL_UART_GET_FLAG(&huart2, UART_FLAG_ 阅读全文
posted @ 2021-10-27 00:02 jcmaxx33 阅读(533) 评论(0) 推荐(0) 编辑