DFT scan chain 介绍
摘要：
现代集成电路的制造工艺越来越先进，但是在生产过程中的制造缺陷也越来越难以控制，甚至一颗小小的 PM2.5 就可能导致芯片报废，为了能有效的检测出生产中出现的废片，需要用到扫描链测试（scan chain），由此产生了可测性设计即 DFT flow。 注意scan test 只能检测出制造瑕疵，无法检 阅读全文
posted @ 2021-08-15 17:45 hxing 阅读(4317) 评论(1) 推荐(2) 编辑