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08 2021 档案

DFT scan chain 介绍
摘要:现代集成电路的制造工艺越来越先进,但是在生产过程中的制造缺陷也越来越难以控制,甚至一颗小小的 PM2.5 就可能导致芯片报废,为了能有效的检测出生产中出现的废片,需要用到扫描链测试(scan chain),由此产生了可测性设计即 DFT flow。 注意scan test 只能检测出制造瑕疵,无法检 阅读全文

posted @ 2021-08-15 17:45 hxing 阅读(5130) 评论(1) 推荐(2) 编辑

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