摘要:
congestion,中文名是拥塞。这是一个反应设计绕线资源一个重要指标参数。通常在还没有final routing的阶段使用,拥塞程度越高,一般意味着后期绕线越容易出现metal short,spacing violation等drc。 1,通常分为以下几类congestion (1)Channe 阅读全文
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本文参考资料: 数字IC后端知识扫盲——OCV(上)_bendandawugui的博客-CSDN博客 数字后端知识点扫盲——OCV(下)_数字后端pocv_bendandawugui的博客-CSDN博客 科普:OCV、AOCV、POCV、LVF都有什么作用? (qq.com) 芯片在实际生产中,同一 阅读全文
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导言:根据定义,虚拟时钟是没有时钟源的时钟,也就是说虚拟时钟是被定义的,但未与任何引脚(pin)/端口(port)关联的时钟。虚拟时钟用作设置input delay/output delay的参考(reference)。 STA有四种时序路径,分别是:in2reg,reg2reg,reg2out和i 阅读全文
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贴上参考文章, 写的很好:negative timing check和negative delay - 知乎 (zhihu.com),如有需要可以参考原文 一,vcs后仿两个关键的option 在做vcs后仿时,有两个参数:+neg_tchk和-negdelay +neg_tchk针对的是timin 阅读全文
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“在芯片生产过程中,暴露的金属线或者多晶硅(polysilicon)等导体,就象是一根根天线,会收集电荷(如等离子刻蚀产生的带电粒子)导致电位升高。天线越长,收集的电荷也就越多,电压就越高。若这片导体碰巧只接了MOS的栅,那么高电压就可能把薄栅氧化层击穿,使电路失效,这种现象我们称之为“天线效应”。 阅读全文
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tie cell即电压钳位单元: 1,主要是为了ESD保护。 2,数字电路某些信号端口需要钳位在固定电平。tie cell按逻辑功能把需要钳位的信号通过tie high与VDD相连,通过tie low与VSS相连。 3,可以隔离普通信号,在分析或者形式验证时避免引起逻辑混乱。 如下图所示,(1)是t 阅读全文
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数字后端验证设计的正确性,离不开后仿、静态时序分析(STA)和形式验证(Formal Verification) 一,形式验证 形式验证主要用于两个阶段: 1,逻辑综合后的形式验证:主要验证Netlist和RTL的功能是否一致,保证在逻辑综合过程中没有改变原先HDL描述的电路功能。 2,物理实现后的 阅读全文
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一,基础 在数字集成电路中,通常用建立时间(setup time)、保持时间(hold time)、传输延迟时间(propagation delay time)、最高时钟频率(maximum clock frequency)等几个参数具体描述触发器的动态特性。 以一个边沿D触发器为例 建立时间(se 阅读全文
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一,设计导入阶段 检查时钟周期是否符合spec,检查log是否有warn和error 二,floorplan阶 三,placement阶段 检查setup time, DRVs是否符合预期。在查看setup timing report时,我们要注意以下内容: (1)每个group path的WNS, 阅读全文
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IO pad =pad+电路 IO总的来说由两部分组成,一个是PAD,一个是电路。电路又分为pre 和 post。PAD的作用是为了封装的时候连接金线。因此,为了防止金线短路,要求PAD之间要有最小距离,具体数值要看你的封装形式。电路的作用有几方面:ESD保护,level shifter,施密特触发 阅读全文