如何用CST自带宏提取材料的DK，Df值
我们知道如果在CST中要做精确的仿真，进行仿真测试对比，其中第一步就是要搞清楚仿真模型的参数，如果输入数据不对，那也避免不了垃圾进垃圾出的原则。和仿真相关的数据很多，其中PCB板的介质参数Dk, Df就是介电常数的实部和损耗角正切tanD就是我们需要搞清楚的重要参数。
为什么要测量得到材料参数
不同的供应商不同的工艺，材料属性都不同。那我们能从哪里得到材料参数呢？通常大家的做法就直接用库里的模型，或者参考规格书，如下图：
更严谨的仿真人员，会参考文献里的材料模型的结果，如下图的Djordjevic 2001的文章：
但如上图所说他的模型是和测量结果比对的，可是文献又是如何测量的，测量的那块板材和我们手上的板材是否一致呢？所以，测量是得到材料参数是最可靠的办法。
如何通过测量提取材料参数
这里先介绍最简单的一种双线提取材料参数的方法。
step1:首先制作一个夹具，如下图：
- 夹具的要点是两个传输线有一个长度差，比如我们这里的例子是30mm。
- 双线提取法要求使用高质量稳定的连接器，这样算法才可以减去两种连接器的影响。
- 测试两组传输的2个S2P文件，本例中短的一个存为THRU.s2p，一个长的存为line.s2p。
step2 用CST提取材料参数
1. 创建一个和夹具一样的传输线模型，最好将模型长度和双线的差设为一样，如下图的模型的30mm。
2. 设置为F求解器，设置频率范围。打开CST内置的宏，如下图：
弹出的对话框如下图，首先在Select extraction technique，选择Extract from 2 line (3D EM), 在Material properties(datasheet)下输入规格书的值，Select material选择CST模型里的那个材料名称，本例中我将这个材料命名为了unknow。
在Load measured data里导入之前测到的长短线的S2P文件。长短线夹具长度差和CST模型长度都设置为一样的30mm。当然Special可以对采样点和精度进行设置。
3. 都设置完成后点击Extract提取材料参数，软件会自动运动程序让仿真结果去逼近测试结果，最后得到一致的结果后，所用的材料即为提取的材料参数。仿真结束后再1D result下有如下这样一个文件夹：
点击egL可以看到预估的材料能得到和测量一样的结果，如下图所示：
点击1D result下Complex permitivity extraction文件夹下的unknow材料如下图是提取得到的材料参数的DK和DF，这里我预设的datasheet的DK为3，最终软件也找到了材料的实际值4.5左右，预设的datasheet的Df为0.01，最终软件也找到了材料的实际值0.02左右。
提取得到的材料已经自动赋给了unknow这个材料，用户可以保存下来，给以后使用。通过提取得到的材料使用起来比较有信心，不过需要注意的是，即便是同一种材料微带线提取的结果并不适合给带状线使用。这里先介绍最基本的双线提取法的用法，更进一步的操作，后面再给大家介绍。
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