2018年12月3日
DFT测试-OCC电路介绍
摘要： SCAN技术，也就是ATPG技术-- 测试std-logic, 主要实现工具是：产生ATPG使用Mentor的 TestKompress和synopsys TetraMAX；插入scan chain主要使用synopsys 的DFT compiler。通常，我们所说的DCSCAN就是normal s 阅读全文
posted @ 2018-12-03 21:43 大海在倾听 阅读(11239) 评论(0) 推荐(0) 编辑
芯片封装测试CP,FT,WT基本概念
摘要： WAT(Wafer Acception Test) 管芯结构性测试 对象：专门的测试图形的测试，结构测试。 目的：通过电参数监控wafer工艺各阶段是否正常和稳定。 下面二者都需要做功能级别测试的。 chip probing 基本原理是探针加信号激励给pad，然后测试功能。 a. 测试对象，wafe 阅读全文
posted @ 2018-12-03 15:05 大海在倾听 阅读(5900) 评论(0) 推荐(0) 编辑
gVim 按列操作
摘要： 打开要编辑的文档，将光标移动到#号符所在列上，停留处为操作的起始点 打开要编辑的文档，将光标移动到#号符所在列上，停留处为操作的起始点 2 选定#号符所在列： CTRL+v 将编辑器切换至"可视模式"（visual mode） 你可以通过操作键盘的上下方向键来控制选定区域 也可以通过组合键进行 下方 阅读全文
posted @ 2018-12-03 10:17 大海在倾听 阅读(10805) 评论(0) 推荐(0) 编辑