SSD相关术语

• SSD：Solid State Disk、固态硬盘
• NAND Flash：非易失性存储介质，读取快、写入快，适合存储大量数据（用户数据）
• NOR Flash：非易失性存储介质，读取更快、写入慢，适合存储少量关键数据（FW、config）
• Controller：主控，控制中心
• DDR、Double Data Rate SDRAM：双倍数据率同步动态随机存取存储器，高速缓存
• RDT：Reliability Demonstration Test、可靠性验证（检测缺陷（坏块、硬件故障），确保SSD可靠性和耐久性）
• PCI-SIG：负责制定和维护PCI（外设组件互连）标准的国际组织
  • VID、Vendor ID：PCIe产品的身份标识（标记PCIe产品厂商）
  • DID、Device ID：标记不同的产品
  • RID、Revision ID：驱动版本　　
  • 版卡：PCB板、印制电路板
  • SSVID、SVID：标记板卡厂商
• IEEE：电气电子工程师学会
  • OUI：组织唯一标识符，标识不同的硬件制造商（MAC地址的前24位）

• ECC：Error Checking and Correcting、错误检查和纠正（常用LDPC算法、RAID5）
• UECC：Uncorrectable Error Code、不可纠正的错误校验码、读错误（读取时遇到无法通过ECC修复的数据错误）
• TT：Thermal Throttling、热节流模式、高温下设备开始主动降低性能、直到锁盘（无法读写）
  • LTT：low temperature test、低温测试
  • HTT：high temperature test、高温测试
  • NTT：normal temperature test、常温测试
  • FT：Fixed Temperature、恒定温度
• EOL：End of life、设备生命末期，PE Cycle数达到设定值、仅支持有限的功能（例如 read only）
• spec：Specification、产品设计规格书（确定产品应该满足的所有要求和特性）
• SOP：Standard Operating Procedure、标准操作流程
• 热修复：不停止或重启软件、系统或服务的情况下，对软件中的错误进行修复
• 流片：将设计好的方案交给芯片制造厂生产出样品，检测是否满足要求
  • 流片方式-Full Mask：全掩膜、全部掩膜都为某个设计服务
  • 流片方式-MPW：多项目晶圆、将多个集成电路设计放在同一晶圆片上流片
  • mp：Mass Production、量产
  • br：bootrom、负责上电后进行最底层的硬件初始化
  • bl：bootloader、运行在bootrom之后，完成更高阶的硬件初始化和操作系统的加载
• EC TABLE：Error Correction Table、记录每个存储单元的错误校正信息，帮助在数据读取时进行错误检测和纠正
• Wear Leveling Table：记录 NAND 块的擦除次数，用于磨损均衡
• BB Table：Bad Block Table、坏块表、管理和记录 NAND 闪存中的坏块信息
• EM ：Error Manage、错误管理（错误检测和纠正、磨损均衡、坏块管理等）
• BBM：Bad Block Manage、坏块管理，包括（坏块识别、数据映射、磨损均衡、错误检测和纠正、垃圾回收）
• L2P：Logic address to physical address mapping table、逻辑地址映射到物理地址
  • 逻辑地址：主机访问的地址
  • 物理地址：闪存中的地址
  • LBA：Logical Block、逻辑块、大小通常是512Byte或4KB
  • PBA：Physical Block、物理块、大小为几百KB到几MB
• crosstemp：交叉温度（高低温循环变化、温循）
• BLK_GC_RETENTION：在SSD垃圾回收过程中，需要保留的有效数据块的比例（影响GC效率和SSD性能）
• VTC：Valid Transaction Count、记录每个块中有效数据的数量
• Free Block：空闲块、已经被擦除且可以立即接受新数据写入的存储块
• Host io timeout：主机系统等待SSD响应I/O操作的最长时间超过阈配置的阈值
• PI：Protection Information、通过在用户数据之外添加元数据来检测和防止数据损坏
• VT：Voltage Threshold、阈值电压（在控制极施加大于阈值电压的电压，晶体管导通）
• Vth ：Threshold Voltage、阈值电压
  • VT Distribution：阈值电压分布（描述存储单元在不同编程状态下的阈值电压(VT)的统计分布）
  • VT Scan：SSD控制器系统性地扫描NAND单元的阈值电压分布（基于电压分布分析出UECC原因）
  • RRT：Read Retry Table、读取重试表（通过动态调整读取电压来读取到正确的数据）
  • VT Offset：阈值电压偏移、通过动态调整读取电压读到正确数据
•  workround：解决方案/应对方法，用于优化速度、延长寿命、兼容性、数据安全
• HSC：Hot Swap Controller、对盘进行异常掉电和正常掉电（SPOR/POR）测试
• POR：Power off Recovery、断电恢复