摘要: https://zhuanlan.zhihu.com/p/159273941 《DFT数字系统测试和可测试性设计》 DFT-入门篇 随着芯片的制程越来小(5nm), 芯片的规模越来越大,对芯片的测试也就变得越来越困难。 而测试作为芯片尤为重要的一个环节,是不能忽略的。DFT也是随着测试应运而生的一个 阅读全文
posted @ 2022-04-09 21:15 e_shannon 阅读(294) 评论(0) 推荐(0) 编辑
摘要: https://zhuanlan.zhihu.com/p/378708372 芯片设计专题(一)——CRG(Reset) 桔里猫 ​​ 清华大学 工学博士 124 人赞同了该文章 新开一个系列。讲讲在工作中向前辈们学到的一系列芯片设计中的电路技巧。 首先来讲讲第一章。这篇文章讲讲芯片里非常重要的两个 阅读全文
posted @ 2022-04-09 21:07 e_shannon 阅读(729) 评论(0) 推荐(0) 编辑