2018年9月4日
DFT介绍
摘要： 1. 可测试性特点 可控性：能够设定某些电路节点到某种状态或逻辑值 可观察：能够观测芯片内部节点的状态或逻辑值 2. 如何测试 1）建立模型 电路建模(circuit modeling) 故障建模(fault modeling) 2）ATPG Logic simulation Fault simul 阅读全文
posted @ 2018-09-04 14:57 星雨夜澈 阅读(2676) 评论(0) 推荐(0) 编辑