ZC_汇编指令_test

1、(http://baike.baidu.com/subview/1234/8387433.htm

语法:TEST r/m,r/m/data

影响标志:C,O,P,Z,S(其中C与O两个标志会被设为0)

Intel的技术手册上是这么写的:

TEMP ←SRC1 AND SRC2;

SF ←MSB(TEMP);    // MSB(TEMP): 取TEMP的最高位

IF TEMP = 0
THEN ZF ←1;
ELSE ZF ←0;

FI:    // ZC: 这个是什么?貌似没什么卵用

PF ←BitwiseXNOR(TEMP[0:7]);// PF = 将TEMP的低8位,从第0位开始,逐位取同或。也就是第0位与第1位的同或结果,去和第2位同或,结果再去和第3位同或....直到和第7位同或。
CF ←0;
OF ←0;
(* AF is undefined *) // AF位是未定的,鬼知道是什么

 

2、

 

posted @ 2016-06-06 16:45  DebugSkill  阅读(252)  评论(0编辑  收藏  举报