SDRAM小结
一、读写操作:
(一)块使能
相应的块和行地址一定要通过ACT激活,在ACT命令和下一个读写命令必须有tRCD间隔。
(二)读操作
读命令设置之后,输出缓冲器变成了low_Z。SDRAM能执行组读出操作。
组长度可以设为1,2,4和8.开始的组读出地址由列地址和块地址在读命令设置时说明。数据在延迟CAS后输出。
在数据成功读出后,输出缓冲器变成high_Z.
CAS延迟和组长度在模式寄存器中设置。
(三)写操作
组写入:组写入通过设置OPCODE为0来使能。组写入在写命令设置的时候同时开始。写开始地址在写命令设置的同时由列地址和块地址说明。
单个写:三个写操作通过设置OPCODE为1来使能。
(四)自动充电
读时自动预先充电:在这个操作中,预先充电在完成一个读操作后自动执行,所以预先充电命令不需要在读操作后执行。这个命令必须在ACT后面执行。下一个ACT命令延迟tRP后再执行。
(五)写时自动预先充电:。。。
(六)块停止命令
在读周期时:块停止命令到达后,再经过延迟时间CAS后,读数据才终止,数据总线变成high_Z;
在写周期时,块停止命令到达后,写数据立即停止,数据总线变成high_Z;
二、命令间隔:
(一)读命令到读命令间隔
1、相同块,相同行地址:第二个读命令和前一个读命令的间隔不能少于一个clock。即使第一个组读的数据还没结束,第二个命令也有效。
2、相同块,不同行地址:连续的读命令不能被执行,必须用预先充电命令和ACT命令将两个读命令分开。
3、不同块:当块改变(就是说设置了ACT命令),第二个读和第一个读之间的间隔必须不少于一个clock。
(二)写命令到写命令间隔
1、相同块,相同行地址:第二个写命令和前一个写命令的间隔不能少于一个clock。即使第一个组读的数据还没结束,第二个命令也有效。
2、相同块,不同行地址:连续的写命令不能被执行,必须用预先充电命令和ACT命令将两个写命令分开。
3、不同块:当块改变(就是说设置了ACT命令),第二个写和第一个写之间的间隔必须不少于一个clock。
(三)读命令到写命令的间隔:
1、相同块,相同行:写命令和读命令之间的间隔不能少于一个clock,DQMU和DQML必须设为高,这样输出缓冲器在数据输出前变成High_Z(高阻时,数据不能输出,但不影响数据输入)。
2、相同块,不同行:连续的写命令不能被执行,必须用预先充电命令和ACT命令将两个命令分开。
3、不同块:当块改变(就是说设置了ACT命令),第二个写和第一个读之间的间隔必须不少于一个clock。DQMU和DQML必须设为高,这样在数据输入前输出缓冲器就变成了High_Z;
(四)写命令到读命令的间隔:
1、相同块,相同行:读命令和写命令之间的间隔不能少于一个clock,组写数据持续写直到读开始执行的前一个周期。
2、相同块,不同行:连续的读命令不能被执行,必须用预先充电命令和ACT命令将两个命令分开。
3、不同块:当块改变(就是说设置了ACT命令),第二个读和第一个写之间的间隔必须不少于一个clock。组写数据持续写直到读开始执行的前一个周期。
(五)自动预充电的读命令到读命令的间隔:
1、不同块:当某些块在活动状态,第二个读命令能执行,并且具有优先级。内部的自动预充电在第二个命令执行时开始。
2、相同块:连续的读命令不允许。
(六)自动预充电的写命令到写命令的间隔:
1、不同块:当某些块在活动状态,第二个写命令能执行,并且具有优先级。内部的自动预充电在第二个命令执行时的下一个周期开始。
2、相同块:连续的写命令不允许。
(七)自动预充电的读到写命令的间隔:
1、不同块:当某些块在活动状态,第二个写命令能执行。但DQMU和DQML必须设置为高,这样输出缓冲在数据输入前变成了High_Z.内部的自动预充电在第二个命令执行时开始。
2、相同的块:连续的带自动预充电的读到写命令是非法的,必须用ACT来分离他们。
(八)自动预充电的写到读命令间隔:
1、不同的块:当某些块处于活动状态,第二个读命令可以执行。假如是组写,数据一直写直到读命令执行前的一个时钟周期。内部自动预充电在第二个命令的下一个clock开始。
2、相同的块:连续的带自动预充电的写到读命令是非法的,必须用ACT来分离他们。
(九)读命令到预充电命令间隔:
1、相同的块:间隔不小于1clock,/HZP定义了输出缓冲器在几个clock后变成High_Z, 假如在组数据输出过程中输入了percharge command,组读数据将被中断。为了读取所以的组数据,/EP定义最后的那个数据输出和预充电执行有一个间隔。
(十)写命令到预充电命令间隔:
1、相同块,最小间隔不小于1clock,如果组写操作没完成,输入数据必须通过DQMU,DQML掩饰确保由tRDL定义的时间。
(十一)Bank active command 间隔
1、相同块:两个ACT命令之间不少于tRC
2、different bank active commands:间隔必须不小于tRRD
(十二)MRS到ACT间隔:
间隔不小于tMRD
三、DQM control
(一)eading:设置DQMU、DQML为低电平,输出buffer变成了Low_Z,enabling data out .设置DQMU、DQML为高电平,buffer becomes High_Z,not output.However,内部reading operations continue。the latency of DQML/DQMU during reading is 2 clocks;
(二)writing:seting DQM to low,data can be written.in addition ,when DQM is high,corresponding data is not written,the lantency of DQM is 0clock.
缩写:
DSL--- device deselect
NOP --no operation
BST-- Burst stop
RD-- read
RDA-- read with auto precharge
WR--- write
WRA--- write with auto precharge
ACT ---Bank activate
PRE ---precharge select bank
PALL--- prechange all banks
MRS--- mode register set
tRRD--row active to row active delay
tRCD--RAS TO CAS DELAY
tRP--row precharge time
tRAS--row active time
tRC--row cycle time
tRDL--last data in to row precharge
tREF--refresh interval time