Android两个常用且强大的测试方法
Andorid上两个非常强大的测试方法：
一、hprof + MAT + eclipse：
这个主要用来测试内存泄露。方法是使用DDMS的Dump HPROF File生成hprof文件，再用hprof-conv工具转换成MAT能识别的文件，最后用MAT打开。
二、Debug类 + traceview：
该方法主要用来测试时间性能。在代码中加入如下内容：
1 Debug.startMethodTracing("aaaa");//在sdcard下生成aaaa.trace文件
2 //.....要测试的内容
3 Debug.stopMethodTracing();
拿到生成的trace文件后，用traceview打开，如下图：
界面中的参数大意如下：
<上面的面板>
mesc ：运行的时间，毫秒
<下面的面板>
Name ：列出的是所有的调用项，前面的数字是编号，展开可以看到有的有Parent 和Children子项，就是指被调用和调用。
Incl : inclusive时间占总时间的白分比
inclusive : 调用占用时间。（包括了所有的子方法的调用时间）
Excl : 执行占总时间的白分比。
Exclusive : 执行时间，不包含子方法的时间。
Calls+Recur Calls/Total : 调用和重复调用的次数
Time/Call : 总的时间。(ms)
