摘要:
随着半导体技术的进步,制造过程中的质量控制已成为提高半导体器件性能和可靠性的核心。粒子缺陷不仅会显著降低器件的电气性能,例如导致电路短路或开路等故障,而且对器件的长期可靠性产生严重影响,从而增加了器件性能退化和失效的可能性。 Part1 - 引 言 半导体制造行业是现代电子信息技术发展的支柱,其技术 阅读全文
摘要:
背景 在C++编程中,高效的数据访问至关重要,而内存映射文件(Memory Mapped Files)提供了一种强大的工具,它允许我们直接将文件内容加载到进程地址空间,从而以极高的效率进行读写操作。今天,我们要向大家推荐一个轻量级且易于使用的开源库——mio。 项目介绍 mio是一个头文件式的、跨平 阅读全文