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半导体制造领域中的粒子缺陷（Particle Defect）
摘要：随着半导体技术的进步，制造过程中的质量控制已成为提高半导体器件性能和可靠性的核心。粒子缺陷不仅会显著降低器件的电气性能，例如导致电路短路或开路等故障，而且对器件的长期可靠性产生严重影响，从而增加了器件性能退化和失效的可能性。 Part1 - 引 言 半导体制造行业是现代电子信息技术发展的支柱，其技术 阅读全文
posted @ 2024-11-28 15:37 小金乌会发光－Z&M 阅读(523) 评论(0) 推荐(0) 编辑
碳化硅SiC行业研究报告
摘要：--前言-- 本次介绍一篇个人觉得数据相当丰富，写的不错的关于碳化硅SiC行业研究报告，增加对第三代半导体材料碳化硅SiC的了解！ （报告出品方/作者：华泰证券，黄乐平） 1 碳化硅为第三代半导体材料，引领功率及射频领域革新 碳化硅较硅更能满足高温、高压、高频等需求，下游应用领域广泛 碳化硅属于第三 阅读全文
posted @ 2022-05-12 16:56 小金乌会发光－Z&M 阅读(522) 评论(0) 推荐(0) 编辑

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